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    1. SP2233方案的U盘修复工具 3/4045 测试/测量 2010-01-25
      下载了
    2. 哥们上一个“光时域反射仪”的资料 4/4119 测试/测量 2010-01-25
      楼主能做这个吗?
    3. 哥们上一个“光时域反射仪”的资料 4/4119 测试/测量 2010-01-25
      不错,学习下
    4. 数据采集资料 3/3014 测试/测量 2010-01-25
      还有DAQBase数据采集基础知识.:D
    5. 数据采集资料 3/3014 测试/测量 2010-01-25
      哇,包括应用案例,图解和Ni-DAQ7.0快速入门指南,多谢版主啦:lol
    6. 三菱 西门子 欧姆龙 3种PLC的使用心得征集 19/6966 工业自动化与控制 2010-01-25
      PLC是为工艺服务的 程序的好还的重要标准之一就是看是否满足工艺要求 因此熟悉工艺是第一步,必须把工艺搞清楚,然后再开始编程调试。 同时,编程最好学习一下软件工程及计算机编程的一些规范,尽量的让自己的程序模块化、结构化,以便自己能够复用并且能够让别人看的懂自己的程序
    7. 自己去图书馆查一下吧,书上有详细的介绍
    8. US2D高速二极管可用哪种代换 3/4391 工业自动化与控制 2010-01-21
      应该不行,自己比较参数吧
    9. 先把每张图纸生成符号,然后把3个生成的符号放在一张新建的图纸中,从新建的图纸生成网络表这样生成的网络表就包含了3张原理图的信息。 如果是PCB图直接复制粘贴到一个PCB图再修改下网络连接重新布局布线就可以了。
    10. 最右下角的不是示波器,是信号发生器
    11. 请问中测,成测都是什么意思啊? 2/4535 测试/测量 2010-01-15
      看名字就知道了, 中测,产品研发中测试 成测,成品后测试
    12. synplify和DC的区别 1/5336 FPGA/CPLD 2010-01-15
      隔行如隔山吧
    13. 版主shuangshumei今天生日,我们该怎么祝贺下? 20/5452 聊聊、笑笑、闹闹 2010-01-15
      嗯,虽然是个仙人掌的头像,但明显是女娃娃型的
    14. 原帖由 zhangkai0215 于 2010-1-13 19:58 发表 [url=https://bbs.eeworld.com.cn/redirect.php?goto=findpost&pid=293376&ptid=93531][/url] LPC213X,这是我们学习ARM7时,使用的芯片,但在学习这个的同时,我们有些人又学习了stm32,感觉 LPC2000系列用着没有stm32稳定,最后才知道,我们使用的是自己写的底层函数,stm32是人家自带的,不知恩智浦的LPC2000 ...
      只注意STM32支持第三方工具了
    15. 原帖由 wdgui522 于 2010-1-14 12:28 发表 [url=https://bbs.eeworld.com.cn/redirect.php?goto=findpost&pid=293699&ptid=93531][/url] 以前用过2366 感觉还不错 现在手上有个项目准备用lpc1768 但还没找到相关的编程工具呢 郁闷
      有个LPC1000的讲座,问问去吧
    16. 电路板调试 2/3354 测试/测量 2010-01-11
      图片见附件
    17. 阿凡达真的那么好看吗,看过的介绍一下啊 11/4629 聊聊、笑笑、闹闹 2010-01-11
      wangkj不是一般的牛啊!
    18. Altera FPGA的速度没有Xilinx的速度快,错! 当然这种非对称的结构,你必须有一定的了解,才可以更好的利用。也就是要遵循:. 大的数据吞吐通道应该采用横向放置规划! 控制通路采用纵向放置规划! Altera至此以后, 一直沿袭这种结构规划。因此,如果你想有效利用好Altera的产品,就应该遵守这个规则。昨天说到这里今天继续开始。 又有很多时候没有提Lattice,在1998年的时候, Lattice和Altera同时都有成为PLD霸主地位的意图。什么可以证明呢, 那就是谁最先推出可以ISP的宏单元超过1000个的PLD。
    19. 在CCS中能看到c转换的汇编吗? 1/3683 DSP 与 ARM 处理器 2010-01-07
      当然可以看,问题是几乎没人能看懂 我写汇编几年了,后改C,但是基本不看C编译后的汇编
    20. DDR测试系列——漫话DDR3 4/6376 测试/测量 2010-01-07
      DDR3测试 JEDEC标准规定的DDR3测试主要分为三个方面,分别为:时钟测试、时序测试及电气性能测试。其中时钟测试主要测试时钟信号的周期、上下沿脉宽、周期抖动以及连续n周期累积误差等指标;时序测试主要测试数据读写时的建立保持时间相关参数;电气性能测试主要测试信号完整性相关指标,主要包括各信号的斜率以及直/交流逻辑高/低电平等指标。完整的DDR3测试项目不但种类繁多并且涉及到信号读写分离等复杂的判断过程,手工测量不但费时费力且难以保证测量的准确性。针对于此,力科专门推出了最新的QPHY-DDR3自动化测试软件包,它将以图形化的界面帮助用户完成从被测信号的搭接、信号采集与读写分离、自动测试与分析到最终的测试报告生成这一系列完整的测试工作。 结语 可以预期的是,DDR3将在未来的两年内加速占领更多的市场份额,Intel的Core i7处理器以及AMD的Phenom II处理器均内置内存控制器并且支持DDR3,同时Core i7处理器将不支持DDR2。 参考文献 1. DDR3 SDRAM Standard JESD79-3D,JEDEC, September 2009

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