- 2024-09-03
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案例分享 ▏PIN硅辐射探测IV曲线测试
近日,有客户找到我们需要测PIN的IV特性,客户反馈了解过吉时利2400系列源表测试会出现屏幕无法显示曲线问题,了解客户需求后,为了更好的完成测试,我们及时做出了一套测试方案,去客户现场进行测试,接下来为大家分享PIN硅辐射探测IV曲线的测试案例!
PIN硅辐射探测器是一种用于探测辐射的半导体探测器,它通常由P型硅、I型硅和N型硅层组成。PIN探测器具有高能分辨率和高探测效率的特点,因此在核物理实验、医学成像和辐射监测等领域得到广泛应用。
PIN硅辐射探测器的工作原理是通过辐射粒子在探测器中产生的电子空穿和电子空穴引起的电荷移动来测量辐射能量。当辐射粒子进入探测器时,它会与硅晶格中的原子发生相互作用,产生电子空穿和电子空穴。这些电荷在电场的作用下被分离并收集到探测器的电极上,产生一个电荷脉冲信号。通过测量这个信号的幅度和时间分布,可以确定辐射粒子的能量和入射位置。
为了确定PIN硅辐射探测器的性能,我们首先使用的是吉时利2400源表+kickstart上位机软件进行测试,在测试PIN的IV曲线时,需要将样品放在不透光的环境中,所以在测试时,我们将样品放在了一个密闭的盒子,一键测试就可完成。
吉时利2400源表+kickstart上位机软件
测试中可看到我们采用的是吉时利2400源表+kickstart上位机软件可顺利完成测试。
此次测试我们更推荐使用2450源表进行测试,新款2400图形化系列源表在外观上可直接看出较大的区别,它可实现触屏操作,操作更加简单,在源表屏幕上可以直接显示IV曲线,不需要上位机软件就可直观看到测试结果,操作简单,测试便捷,所以我们更推荐2450系列源表。
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MIPI D-PHY 物理层自动一致性测试
对低功耗高清显示器的需求,正推动着对高速串行总线的采用,特别是移动设备。MIPI D-PHY 是一种标准总线,是为在应用处理器、摄像机和显示器之间传送数据而设计的。
物理层
D-PHY 的物理层由一个时钟和四条数据通路 [D0:D3] 组成,可以以非常高的速度运行。物理层可以支持不同的协议层。例如,摄像机捕捉的影像可以通过采用CSI-2 协议的 D-PHY 物理层传送到处理器,再传送到应用处理器,然后通过采用 DSI 协议的 D-PHY 物理层传送到显示器。
EEWORLDIMGTK0
物理层信号有两种模式:高速 (HS) 模式和低功率 (LP) 模式。高速[HS] 模式用于快速传送数据。在系统处于空闲时,低功率 [LP] 模式用来传送控制信息,以延长电池续航时
间。在低功率 (LP) 模式下,信令采用两条单端线路,摆幅为 1.2 V,最大运行数据速率为 10 Mb/s。在高速 (HS) 模式下,信令采用差分线路。
D-PHY 数据通路在连续时钟模式下的模式和状态。(MIPI 联盟 D-PHY 规范第 1.2 版,MIPI 联盟公司 )
D-PHY 时钟通路在正常时钟模式下的模式和状态。(MIPI 联盟 D-PHY 规范第 1.2 版,MIPI 联盟公司 )
测试设置
示 波 器 和 探 头 要 求 的 最 低 带 宽 是 4 GHz。 在 2.5 Gbps 的最高数据速率时,示波器和探头建议带宽是8 GHz。
设置包括:
示波器
4 只低负载单端探头
TekExpress D-PHY 1.2 自动测试解决方案
高级抖动分析 ( 推荐 )
探测、端接电路板
建议配置:
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PCDF伤口敷料在不同条件下产生电压电流
某高校近日有材料在不同条件下产生的电压电流大小的测试需求。被测件为类似纱布的材料,在折叠弯曲被测件的过程中,它会产生电压电流,其电流低至pA级别。接下来安泰测试将为大家分享PCDF伤口敷料在不同条件下产生电压电流。
我们使用同惠TH2690飞安表进行测试样品电流。
首先我们使用三同轴测试线缆将TH2690和样品连接起来,红色和黑色鳄鱼夹接被测件两端。
仪器功能设为电流表功能。
分别对比静止状态下,折叠弯曲状态下,加热状态下和加超声状态下的测试结果。
静止状态下测试
每隔5s弯曲折叠一次
每隔20s加热和常温间隔测试
加超声状态下测试结果
TH2690电流测试到fA级别,支持测试电压,电流,电阻和电荷,也可输出±1000V电压,可以替代吉时利6517B。
TH2690系列飞安表/皮安表/静电计/高阻计提供了行业领先的测量功能。飞安表/静电计具有0.01fA(10-17A)最小电流分辨率,可满足大部分场景的微弱电流测量需求。高阻计内置的1000V电压源支持测量高达1000PΩ(1018Ω)的电阻。