根据官方给出的最新版本勘误表,对于C3 和C5版本的芯片 FLASH 最大擦写次数为100次,最好还是在SRAM里调程序,而不要烧到FLASH里去,确实调试过程中烧写是之前常用的方法,即使是产品,这个问题有待TI去解决吧,希望新的版本能够消除这样的问题,期待。。。
也看到论坛朋友说的原因:
当flash烧写超过100次之后 有万分之二的几率损坏而这个损坏通常是 长时间断电放置,再上电后,FLASH的数据发生了变化 也就是说大家可以该怎么调程序就怎么调程序吧,没什么影响了只要不把FLASH 当模拟的EEPROM用就好了。
看到如何在RAM中调试运行,我最近工作太忙了,这个应该是很多人都想知道的,我看到了,板子没在手上还没试一下,等实验ok了,再和大家分享。