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  • 2022-05-23
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学提供方案—(二十四)充分发挥示波器潜能的6大秘诀

    充分发挥示波器潜能的 6 大秘诀 秘诀①从基本触发开始 给您的信号拍一个终点照 要充分利用示波器的功能,示波器触发是您需要掌握的重要功能之一。如果您需要对当今许多更为复杂高速的信号进行测量,这一点尤为重要。 请将示波器触发试想为赛马的终点摄像。虽然这不是一个可重复的事件,但在第一匹马穿过终点线时,相机快门必须与它的鼻子高度同步。在示波器上查看没有触发的波形就像随机拍摄赛马的照片。从比赛开始到结束, 您会看到很多匹马,但不会得到真正需要的信息。 使用示波器的默认触发设置,示波器将在信号的上升沿触发。这个触发点会在屏幕中心(水平和垂直中心)显示。 您想要使用哪个通道作为触发源;您想要怎样的触发电平设置;您想在什么样的边沿(上升沿还是下降沿)触发;以及水平和垂直位置控件,所有这一切都可以选择,以帮助您获取正在寻找的确切事件的“照片”。   秘诀②牢记探头要点 选择正确的示波器探头 探头用于连接示波器和被测器件(DUT),它们对于信号完整性至关重要。 市面上销售的示波器探头有成百上千种,您如何选择正确的那一款?这个问题并没有唯一的答案,因为每一个设计都不尽相同。但是,在做出决定之前,您需要考虑一些不同的探头特征。 带宽 探头的带宽描述了探头能将多高的频率传递给示波器。探头带宽不够一样会造成严重的信号衰减,探头带宽和示波器带宽选择方法一样。 衰减比 探头具有不同(有时可切换)的衰减比,衰减比会改变信号进入示波器的大小。如果衰减比较高,您可以查看较高的电压,但它也会使示波器的内部放大器噪声更高。衰减比较低意味着您看到的示波器噪声更少, 但会有更多的负载效应可能让您的信号变形。 牢记探头要点。秘诀 2(续) 探头负载效应 没有任何探头能够完美地再现您的信号,因为当您将探头连接到电路时, 探头就会成为这个电路的一部分。这种现象称为负载效应。给系统增加不必要的负载,可能导致测量不准确,甚至会改变信号的波形形状! 电阻负载:最好是确保探头的电阻超过电源内阻的十倍,以使幅度下降小于 10%。 电容负载:确保探头的标定电容负载符合您的设计参数。 电感负载:使用尽量短的地线来降低电感负载(在信号中显示为振铃)。 无源探头与有源探头 无源探头通常价格便宜、易于使用而且坚固耐用。无源探头是一种通用且精确的探头类型。它们通常会产生相对较高的电容负载和低的电阻负载。在探测带宽小于 600 MHz 的信号时,无源探头很有用。 有源探头使用有源元器件来放大或调节信号,并需要电源才能工作。它们能够支持更高的信号带宽。有源探头比无源探头的价格要高得多,并且不像无源探头那么坚固耐用。有源探头的负载效应通常比无源探头小。 无源探头非常适合于定性测量,例如检查时钟频率、查找错误等。有源探头则在定量测量方面表现出色,例如输出纹波或上升时间。虽然有源探头的成本高于无源探头,但它们对测量精度有很大的影响。 秘诀③合理定标波形 正确的信号定标至关重要。 示波器的采样速率和垂直分辨率对测量精度有影响,合适的信号刻度设置能让优化您的测量。   水平时基 在进行与时间相关的测量时,水平时基是一个重要考量。当您改变信号的水平时基(每格时间)时,您也改变了总信号采集时间。信号采集时间进而会影响示波器的采样速率。这种关系可通过以下公式来表示: 采样速率 = 存储器深度 / 采集时间 存储器深度为固定值,采集时间可以通过调整示波器上的每格时间设置来确定。随着采集时间增加,采样速率不得不降低,以便将整个采集结果存入示波器的存储器。进行时间相关的测量(频率、脉冲宽度、上升时间等)时,选择适当的采样速率很重要。 垂直标度 正如水平时基对于时间相关的测量很重要一样,垂直刻度对于垂直相关的测量(峰峰值、RMS、最大值、最小值等)也很重要。只需简单地增加信号的垂直刻度,您就可以获得更精确的测量,测量的标准偏差要小得多。为什么垂直标度会对测量有影响?水平(时间相关的)测量受到采样速率的影响,而垂直(幅度相关的)测量则受到垂直分辨率的影响。 秘诀④使用正确的采集模式       示波器有哪些采集模式? 如果想对示波器读数有信心,您需要了解不同采集模式的优势和劣势,这些模式包括:常规采集、平均采集、高分辨率采集和峰值检测采集。采集模式是经过精细调整的采样算法。通过改变示波器模数转换器(ADC)的采样速率并选择性地绘制或组合采样点,可以观察到信号的不同特性。 常规采集模式 常规采集模式是示波器的默认模式。ADC 进行采样,示波器抽取到所需的点数并绘制波形。日常调试任务最好使用常规采集模式,因为它对信号给出了一个很总体的表述。这是一种安全的使用模式,不会出现重大的问题。 平均采集模式 平均模式会捕获多个波形并将它们进行平均。平均采集模式的主要好处在于它会通过平均去除信号上的随机噪声,让您只看到底层的信号。平均采集模式只能用于周期性信号,并采用稳定的示波器触发。平均模式非常适合查看或表征非常稳定的周期性波形。 使用正确的采集模式秘诀 4(续) 高分辨率模式 高分辨率模式是另一种平均采集的形式。然而,它不是波形到波形的平均,而是点对点的平均。实质上,ADC 会对信号进行过采样,然后将相邻点放在一起进行平均。这一模式采用实时boxcar 平均算法,有助于减少随机噪声。它还可以带来更高的分辨率位。 在降低随机噪声方面,高分辨率模式不如前面讨论的平均模式那样有效, 但它具有一些明显的优势。因为高分辨率模式对多次捕获没有依赖,所以它可以用于非周期性信号和瞬态的触发。这使得在一般问题的调试上,高分辨率模式比平均模式好得多。 峰值检测采集模式 峰值检测采集模式的功能与高分辨率模式类似。ADC 对信号进行过采样并选择性地选择要显示的点。但是,峰值检测模式不是将这些点放在一起加以平均,而是选择最高点和最低点进行绘制。这样做很有用,因为它可以提供对异常高点或低点的洞察,而这些点在其他模式下可能会看不到。峰值检测模式最适合用于检测毛刺或查看非常窄的脉冲。   秘诀⑤使用高级触发了解更多细节 在秘诀 1 中,我们讨论了基本触发,其实还有更多的触发模式可供选择   上升 / 下降时间触发 上升 / 下降时间触发在大于或小于一定量的时间内查找从一个电平到另一个电平的上升或下降边跳变。它会针对状态改变得太快或太慢的信号触发。此触发器有助于查看是否存在阻抗失配,系统上是否存在某些额外负载导致边沿过慢。   建立和保持时间触发 建立和保持时间触发可用于各种数据和时钟信号。一个示波器通道探测时钟信号,另一个通道则探测数据信号。建立时间是时钟边沿之前数据信号电平必须存在的时间。保持时间是时钟边沿之后数据信号电平必须保持的时间。 这个触发模式很重要,因为数字设计要求在时钟边沿发生之前,建立起一段时间的数据线状态(0 或1)。将触发条件设置为指定的建立和保持要求,以检查设计中的违规之处。 协议触发 当今许多示波器具有内置的协议触发。如果您使用串行总线,协议触发非常有用。对于这些不同总线中的每一根,都有一系列不同的触发(开始条件、停止条件、缺失确认、无确认寻址等)。 航空航天 / 国防  ARINC 429,MIL-STD 1553 等。 汽车            CAN,I2C,SPI 等。 计算机          USB 等。   您可以通过触发开始条件开始调试,这将为您提供稳定的数据包通过视图,并让您了解系统的运行状况。如果您遇到系统错误或想要证明一切正常,您甚至可以只针对错误触发。这样可以让您只关注导致问题的领域, 而不用将时间浪费在数百个没用错误的数据包上。如果示波器带有分段存储器,您可以将其打开,在很长时间段内只捕获错误。 秘诀⑥对串行总线使用符合解码 协议解码 根据您所测试的器件类型,您可能需要测试某些串行总线(例如汽车上 的 CAN 和 LIN 总线以及嵌入式设计中采用的 I²C 和 RS-232 总线)。示波器可以通过进行物理层测量来表征这些信号的模拟质量。 如秘诀 5 中所述,协议触发有助于捕获总线上的特定实例或事件,这非常有用。然而,当今使用的许多串行总线采用十六进制格式编码,可能难以理解。符合解码可将这些事件转换成更易理解的格式。 基于硬件的解码 基于硬件的解码提供了解码的实时更新。这提高了示波器捕获和显示偶发性串行总线通信错误(如位填充错误、格式错误、确认错误,CRC 错误和错误帧)的概率。     如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。

  • 2022-05-20
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学提供方案-(二十三)示波器探测需要避免的七大常见错误

    示波器探测需要避免的七大常见错误 错误 1 没有校准探头 探头在交付给您之前已进行过校准,但它们没有针对示波器前端进行校准。如果它们未在示波器输入端上进行校准,那么就无法得到测量结果。 有源探头 如果您的有源探头没有针对示波器进行校准,您将看到垂直电压测量结果和上升沿时序(以及可能的一些失真)出现差异。大多数示波器具有参考或辅助输出功能,还配有指南来引导您完成探头校准。 图 1 显示了通道 1(黄色迹线)上的 SMA 电缆和适配器输入到示波器的 50 MHz 信号。绿色迹线是通过通道 2 上的有源探头输入到示波器的同一信号。请注意,通道 1 上的发生器输出为 1.04 Vpp(伏特峰峰值),通道 2 上探测到的信号为 965 mV (毫伏)。另外,通道 1 与通道 2 的偏移高达 3 ms(毫秒),所以上升时间根本不能排成一行。   如果我们校准这个探头,结果将大为改善。您可以在图 2 中看到经过适当幅度和偏移校准后的结果。幅度现在改善为 972 mVpp,偏移得到了纠正,两个上升时间保持一致。     无源探头 可以调节探头的可变电容,使补偿与正在使用的示波器输入完美匹配。大多数示波器都有可以用于校准或参考的方波输出。探测这个连接,检查波形是否为方形。根据需要调整可变电容,以消除所有下冲或过冲。 技巧:示波器可能有调节探头补偿的功能,您也可以手动更改。 错误 2 增加探头负载效应 只要将探头连接到示波器并将它与您的设备接触,探头就会成为电路的一部分。探头对您的设备施加的电阻、电容和电感负载效应会影响您在示波器屏幕上看到的信号。这些负载效应可能会改变被测电路的工作状态。了解这些负载效应,有助于您避免为特定的电路或系统选择错误探头。探头具有电阻、电容和电感特性,如图 3 所示。     为了接触到周围环境过于狭小的探测点,可能需要想方设法添加长引线或电线。但是,为探头添加附件或探针会降低带宽、增加负载效应,进而导致频率响应不再平坦。 通常,探针的输入线或引线越长,带宽减小得就越大。较窄带宽的测量可能不会 受到太大影响,但在进行较宽带宽的测量时,特别是在 1 GHz 以上时,需要谨 慎选择使用的探针和附件。随着探头带宽降低,您将失去测量快速上升时间的能力。图 4 演示了随着附件长度的增加,示波器显示的上升时间是如何变慢的。为了进行最准确的测量,最好使用尽量短的探针。     另外,最好要使用较短的接地引线,因为它们越长,引入的电感就越多。保持接地线尽量短并尽量靠近系统接地点,以便确保可重复和准确的测量。 技巧:如果必须在探针上添加导线才能接触到难以到达的探测点,那么最好为探针添加一个电阻,以减弱所添加的导线引起的谐振。添加长引线时,您可能无法解决带宽限制问题,但可以将频率响应变平坦。为了确定将要使用的电阻大小,可以探测一个已知方波,例如示波器上提供的参考方波。如果电阻设置正确,您将会看到一个干净的方波(除了其带宽可能受限之外)。如果信号发生振铃,请增加电阻的大小。单端探头只需要在探针处增加一个电阻。如果您使用的是差分探头,请为每根引线添加一个电阻。   错误 3 没有充分利用您的 差分探头 许多人认为只有在探测差分信号时才使用差分探头。您是否知道,在探测单端信号时,也可以使用差分探头?这将为您节省大量时间和金钱,并提高测量的准确性。最大限度地利用差分探头,获得尽量最好的信号保真度。 差分探头可以进行与单端探头相同的测量,并且由于差分探头在两个输入端上有共模抑制,所以差分测量结果的噪声大为减少。这使您可以看到被测设备信号的更好表示,而不会被探测所增加的随机噪声误导。 请看图6中的蓝色单端测量信号和图 7 中的红色差分测量信号。蓝色的单端测量结果与红色的差分测量结果相比,噪声要多得多,因为单端探头缺少共模校正功能。     错误 4 选择了错误的电流探头 大电流和小电流测量需要捕获的细节并不相同。您需要知道为应用选择哪种电流探头更合适,以及使用错误的探头可能会遇到哪些麻烦。 大电流测量: 如果使用钳形探头测量大电流(10A - 3000A),那么您的设备必须足够小,使钳形探头能够夹住它。如果设备太大使得钳形探头无法夹住,那么工程师可能会想办法在探头钳夹上添加额外的导线,但这会改变被测设备的特性。更好的办法是使用合适的工具。 最好的解决方案是使用具有柔性回路探头前端的大电流探头。您可以将该柔性回路缠绕到任何设备上。这种探头叫做 Rogowski 线圈。它可以让您在不添加未知特性元器件的情况下探测设备,使测量结果保持高度的信号完整性。它们还使您能够测量从 mA 级到数百 kA 的大电流。请注意,它们只测量交流电流,所以直流分量将被隔离。它们的灵敏度也低于某些电流探头。这对于大电流测量来说通常不是问题。但是在测量小电流时,灵敏度和查看直流分量的能力就变得很重要。请记住,对一种测量有效的方式并不一定适用于另一种测量。     小电流测量 如果测量电池供电设备的电流,则动态范围会有很大差异。如果电池供电设备处于空闲状态或仅处理少量后台任务,其电流峰值会很小。当设备切换到更为活跃的状态时,电流峰值会大幅提高。使用垂直标度较大的示波器设置,您可以测量大信号,但小电流信号将被测量噪声掩盖。另一方面,如果您使用较小的垂直标度设置,那么大信号会削波,您的测量结果也将失真并失效。 选择的电流探头应该不仅能够测量从 μA 到 A 的宽量程,还可以使用多个放大器同时查看大小电流偏差。探头中的两个可变增益放大器允许您设置放大视图以查看小电流波动,还可以缩小视图以同时查看大电流尖峰(参见图 9)。     错误 5 在纹波和噪声测量期间会错误地处理直流偏置 直流电源上的纹波和噪声是由较大直流信号上的小交流信号形成的。当直流偏置较大时,您可能需要在示波器上使用较大的每格电压设置才能在屏幕上显示信号。 与小交流信号相比,这样做会降低测量的灵敏度并增加噪声。这意味着您无法获得信号交流部分的准确表示。 如果使用隔直流电容器来解决这个问题,那么将不可避免地阻隔部分低频交流内容,使您无法观察到信号在经过设备上的元器件时发生的变化。 使用具有较大偏置功能的电源探头,可以将波形置于屏幕中间,而无需移除直流偏置。这样可以让整个波形都显示在屏幕上,同时保持垂直标度较小且处于放大状态。通过这些设置,您可以查看瞬态、纹波和噪声的细节。   错误 6 未知的带宽限制 在进行重要测量时,务必选择具有足够带宽的探头。带宽不足会使信号失真,使您很难做出明智的工程测试或设计决定。普遍接受的带宽计算公式为:评测从 10% 到 90% 的上升沿时,带宽乘以上升时间等于 0.35。 BW x TR = 0.35 值得注意的是,您的整个系统带宽也是需要考虑的重要因素。探头和示波器的带宽都要考虑,从而确定系统带宽。计算系统带宽的公式如下所示。     例如,假设您的示波器和探头带宽均为 500 MHz。使用上面的公式可知,系统带宽将为 353 MHz。您可以看到,与探头和示波器的两个单独带宽相比,系统带宽大大降低。 现在,如果探头带宽仅为300 MHz,示波器带宽仍为 500 MHz,那么应用上述公式,系统带宽进一步降至 257 MHz。 [探头和示波器组成了一个“系统”,对带宽的整体影响比它们单独的影响都要大。] 错误 7 被掩盖的噪声影响 探头和示波器的噪声可能会导致被测设备的噪声显得更大。为您的应用选择具有合适衰减比的探头,将会减小探头和示波器所添加的噪声。因此,您就能够获得更准确的信号,更清晰地查看被测设备的情况。 [有一种方法可以简单地估算探头噪声大小,这就是从探头的技术资料或手册中检索该探头的衰减比和探头噪声电平。] 许多探头制造商将探头噪声描述为等效输入噪声(EIN),并以 Vrms 为单位表示。较高的衰减比使您可以测量较大的信号,但缺点是示波器将检测到这些比率并同时放大信号及其噪声。为了了解这一效应的实际结果,图 10 中的绿色迹线显示了使用 10:1 探头放大后的噪声。         如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。     

  • 2022-05-19
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学提供实验室方案—(二十二)TSP-1000-RF 射频创新实验室

    TSP-1000-RF 射频创新实验室 通信实验室方案 系统背景   随着 3G,4G,物联网等现代通信技术的发展,越来越多的高校开设了通信工程,微电子,电子信息工程专业,其中《通信原理》,《电磁场与微波技术》,《模拟电子线路》,《射频集成电路》等课程为这些专业的必修课程,以保证学生熟练掌握电子系统中芯片,元器件,通信系统的工作原理以及设计和测试方法,为毕业学生走上工作岗位打下坚实基础。 另一方面,由于现代通信技术的发展,设计的产品纷纷开始向更高频率,更大带宽,以及复杂数字调制等方向发展。而目前各个高校由于高频仪表价格高,实验室建设起步晚等种种原因,通常仅配置了少量的保障科研项目的高频测量仪表,或者仅仅配套了示波器等时域测量仪表来完成实验课程。本科教学中射频实验课程的开展非常有限,而大多数通信实验均由软件仿真完成,与实际的工程应用相差甚远。 方案介绍 经济型射频仪表,很好的解决了以往射频实验室成本过高,分析手段单一的问题,为学生在实验室开展动手实验创造了条件。       为了让学生更好的学习射频通信类课程,提高动手能力,掌握先进的测试测量技术。泰克科技与合作伙伴共同开发了射频通信实验板 RF Master。该实验板采用软件无线电概念,提供 Matlab Simulink 软件接口,可以将 Simulink 产生的基带信号与实验板射频电路无缝连接,形成完整的通信系统。同时在混频器、滤波器、放大器前后提供多组测试节点,可以使用泰克射频仪器对板载测试点的信号进行观测,帮助学生了解不同射频器件对信号的影响,加深对无线通信课程概念的理解。 RF Master 射频通信综合实验板指标: 工作频率: 30MHz ~ 6GHz 调制带宽:20MHz 工作方式:半双工模式 基带信号测试点:ADC/DAC 前后提供测试点 (8bit  I/Q 路数据) 射频信号测试点:混频器前后,滤波器前后,放大器前后 (SMA) 上位机软件:Matlab 2015B 64 位或更高实验板连接和供电方式:USB type B 接口   另外还可以使用TTR500 系列矢量网络分析仪,对实验板上的放大器,滤波器等射频微波器件进行测试,加深学生对 S 参数,Smith 圆图等概念的理解,并掌握测试方法,从而告别了传统实验课程只用软件仿真无法实际操作的问题。 方案配置 如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 2022-05-18
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学提供汽车电子方案(二十一)TAS6100A 系列TPM 胎压测试

    TAS6100A 系列 TPMS 胎压测试方案 汽车胎压监测传感器、智能钥匙测试系统 TAS6100A 系列的长时间射频采集 对于 TPMS、PKE 来说,一般的频谱仪基本捕捉不到完整的射频信号,而 TAS6100A 系列是可以采集长达2S 的射频信号,既可以完整采集、分析一帧数据波形,也可以准确测量出一帧数据的时间       射频信号的调制特性分析及射频编码解调 TPMS、PKE的射频的调制一般采用ASK或FSK的方式,调制质量分析主要是针对 ASK 和FSK 数字调制来测试调制的精度、调制指数等参数,确保设备有正确的调制方式,调制指数和精度符合要求,从而不影响通信质量。 应用领域TPMS、PKE 的数据一般采用 NRZ 编码,或者曼彻斯特编码方式,研发工程师设计产品后,如果想清楚传感器的信息是否正确,是没有一个合适的方法,而TAS6100A 系列分析仪具备的 ASK/FSK 的信息解码功能,可以对传感器发射的信息进行解码,来评判系统的稳定性,并验证信息的正确与否。       TPMS、PKE 的供电特性测试 TPMS、PKE 要求功耗极低,才能保证的长期使用,所以低功耗设计很重要,一般,非工作时段工作电流通常小于 100 nA,而正常发射时段工作电流可达到 5‐12 mA。 SMU 是泰克科技旗下 KEITHLEY 吉时利的源表,SMU可以提供低于 pA 级别的测量能力,同时它能提供 DC电源,无论是测试电池,还是测量 PCBA 板,或是TPMS 系统测试,SMU 可以满足 TPMS 的小电流分析和测试要求。 对于需要高速的观察 TPMS 的电流波形,那么 SMU能提供 1MS/s 的电压和电流采集能力,同时保证了TPMS 的耗电测量。     TAS6100 系列 TPMS、PKE 分析仪配置   如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 2022-05-17
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学提供汽车电子方案—(二十)TAS6100A 系列TPMS胎压测试

    TAS6100A 系列 TPMS 胎压测试方案 汽车胎压监测传感器、智能钥匙测试系统 系统背景   熟悉并采用这一方法,用于改进电池材料配方,加速电池材料和添加剂筛选和优化。中国已经成为了汽车的使用大国,而汽车的安全也越来得到更多关注,根本原因是交通事故的发生。TPMS汽车轮胎智能监测系统作为汽车三大安全系统之一,与汽车安全气囊、防抱死制动系统(ABS)一起被大众认可并受到应有的重视。TPMS (轮胎压力监测系统)的作用是在汽车行驶过程中对轮胎气压进行实时自动监测,并对轮胎漏气和低气压进行报警,以确保行车安全。 TPMS 作为汽车安全的重要系统之一,2007 年美国就制定了 FMVSS 138 法规,随后欧盟、日本及 ISO 都制定出相应的 TPMS 标准,中国也在 2016 年 9 月,全国汽车标准化技术委员会汽车电子与电磁兼容分技术委员会组织起草的强制性国家标准《乘用车轮胎气压监测系统的性能要求和试验方法》GB26149 正式通过,将于 2019 年 1 月强制实施。 汽车智能钥匙是汽车智能化的体现之一,从 RKE 到PKE,再到PEPS,无不体现了科技的进步与技术的应用、智能钥匙的装配率越来越高,基本成为汽车的标配功能之一。 汽车智能钥匙除了体现方便之外,还同时还兼具有安全、防盗及报警等的作用。   TPMS 胎压传感器、智能钥匙分析仪方案说明 泰克科技针对 TPMS 传感器、智能钥匙的研发和生产测试要求,全新推出符合要求的测试方案。该方案采用泰克科技的高性价比硬件仪器,结合智能软件的优势,可以让工程师一键来解决 TPMS、智能钥匙的所有测量问题,这些硬件包络泰克全新的实时频谱 RSA系列和精确的源表 SMU,这样的系统不紧能完全测量 TPMS、智能钥匙的射频参数,同时也可以分析TPMS、智能钥匙的功耗特性,给工程师提供全部的TPMS 参数,可以让工程师采用该系统就可以测量和分析 TPMS、智能钥匙的系统特性,从而避免工程师需要多个仪器、复杂测试的环节,可以帮助工程师测量、分析产品射频、供电特性,缩短产品的研发时间,提高工作及生产效率。TAS6100A 不仅仅是一套完整的汽车胎压监测传感器、智能钥匙的测量分析系统,对于常见的无线钥匙、无线遥控、智能遥控玩具,甚至是无人机的飞控系统也是一个很好的测量分析工具。 应用领域 ● 汽车胎压监测传感器、智能钥匙的研发测试与分析 ● 汽车胎压监测传感器、智能钥匙的射频参数、调制特性测量 ● 汽车胎压监测传感器、智能钥匙的供电特性、寿命测试 ● 汽车胎压监测传感器、智能钥匙的生产测量 ● 无线遥控器射频参数、调制特性及供电测试 ● 遥控玩具射频参数、调制特性及供电测试 ● 无人机飞控系统的射频参数、调制特性及供电测试     测试系统特点和优势 ● 具备射频信号分析仪及供电分析能力 ● 分析TPMS的供电特性,评估系统供电特性:精确测量小于10nA的休眠电流,最小电流量程10nA@10fA ● 基本测量准确度 0.012%,分辨率 6½ 位 ● 工作状态的电流波形显示及数据记录、测量 ● 9kHz~3.0GHz 频率范围 ● 0.2dB 幅度精度,直到 3GHz(95% 置信度 ) ● 实时的 DPX 频谱动态观察,以 100% POI 捕获持续时间最短 27us 的射频信号,确保每次都看到问题 ● 功率电平触发适合 TPMS(脉冲)、钥匙射频信号捕捉 ● 2 秒的射频信号采集时间,方便的帧数据持续时间测量,可以采集完整的射频数据 ● 幅度对时间、频率对时间变化完成完整的帧波形分析(调制数据) ● 可以解码(M 码 /NRZ)射频的传输数据 ● 生产测试仅需外部治具即可方便组成测试系统 TAS6100A 基本的射频信号的参数测量 ● TPMS 模块、智能钥匙测试主要包括功率和频谱测试,调制质量测试,杂散辐射等。功率和频谱测试的目的主要是验证设备发射足够的功率电平,保证传输距离,同时有正确的调制波形,频谱干扰成分较少。     TAS6100A 系列的触发功能 TPMS、PKE 的射频信号具有脉冲的特性,也就是说,射频的信息发射是根据监测状态才发射信息给接收器的,普通的频谱仪是不具备功率电平触发能力的。 具备了功率电平的触发功能,工程师就可以方便的、清楚的采集每次传感器发射的射频数据,然后再对射频数据进行更进一步的分析。   如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 2022-05-16
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学提供汽车电子方案—(十九)TSP-2000-BAT电池特性分析

    TSP-2000-BAT,电池综合特性分析软件 高精度电池库伦效率测试方案 系统背景   在电池材料研发过程中,成本、能量密度和寿命是最受关注的问题。在材料科学家的不断努力下,电池行业正在逐渐克服这些问题,使电池的使用成本逐年下降。在2017 年的国际电池研讨会中,来自加拿大 Dalhousie University 的 Jeff Dahn 介 绍 了 改 进 化 学 材 料 后 的NMC(镍锰钴三元材料)锂离子电池所带来的超长电池寿命,这一技术已被特斯拉使用在电池生产中。 我们无法完全消除电池老化,但更长的电池寿命意味着更缓慢的电池衰减,电动车用户可以降低更换电池的频率,使电动车的使用成本大幅度降低。但传统方法评估电池寿命,需要高达上千次的重复充放电,以及长达几个月的漫长等待时间。 为了更快速的了解电池寿命,Jeff Dahn提出了高精度库伦效率(CE, Couloumbic Efficiency)测试方法。它指的是电池放电容量与同循环过程中充电容量之比(CE= Discharge capacity/ Charge capacity)。因为在每一次电池充放电过程中,都会有一部分锂离子的损耗,因此电池容量会随着充放电过程逐渐减小,也就是我们经常说到的电池老化。科学家在测试过程中发现,经过若干次充放电后,电池的 CE 值趋近于一个常数。这个数值越接近 1,说明电池在充放电过程中的衰减越小,寿命也就越长。 使用这一方法,可以取代传统充放电机上进行的寿命测试,在短时间内就可以根据 CE 值得大小,判断电池材料或者添加剂性能的好坏,并预测电池长期寿命。越来越多的电池研发机构和企业开始熟悉并采用这一方法,用于改进电池材料配方,加速电池材料和添加剂筛选和优化。   为了精确测量电池库伦效率,Jeff Dahn 教授开发的全球第一套高精度库伦效率测试系统中,大量使用了吉时利公司的源表和高精度测试设备,用于精确计算充、放电量。 在电池库伦效率测试中使用源表,其先天优势是仅需一台设备即可完成充、放电测试和电量测试,极大的简化了测试系统。而源表还有非常高的测量精度,可以达到nA 甚至 pA 级,一台仪表就可以完成全部的输出和测量功能。   技术特点 ● 高精度库伦效率测试,高达万分之一的测量精度 ● 广泛的输出和测量范围,从微安到安培级输出电流,可以满足从纽扣电池,到圆柱电池,再到软包电池的测试需求 ● 良好的控温精度,为电池提供稳定的温度环境,波动度小于 0.1 度,适用于高校实验室,企业研发部门和品质测试部门 ● 自动化测试软件,支持多通道并行测量,提高测试效率,图形化显示测试结果 ● 使用四线法连接源表和电池,可以消除导线电阻的影响,使测量数值更加准确   测试功能 ● 常规电池充放电功能,测量并记录充放电曲线 ● 高精度电流,电压测量和电量计算 ● 用户可以根据需要设置充放电范围,充放电截止条件,采样频率,以及循环次数 ● 高精度库伦效率测试,记录并显示每个循环周期的电池库伦效率变化       系统结构 ● 测试系统由源表,数据采集器和恒温环境槽组成,可以根据需要同时测量的电池数量,添加或删减源表数量。 ● 吉时利 2450/2460/2461 源表 ● DAQ6510 温度和数据采集器 ● 恒温环境箱 ● 上位机软件   系统连接示意图 如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 2022-05-13
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学提供汽车电子方案—(十八)TAS-16750 汽车电源故障模拟器

    TAS-16750 汽车电源故障模拟器 汽车电源故障模拟试验系统 系统背景 电子产品应用在汽车上将面临使用环境的挑战。汽车电子产品面对的是一个室外使用、随时移动运行的环境,而且根据产品安装位置不同,必须承受的环境应力条件也相差很大。因此,汽车电子产品的环境试验要求非常高,必须经过各种苛刻环境实验的考验,确保产品在预期的寿命内能够正常工作。 为考核汽车电子产品的环境适应性,各车厂都制订了自身的环境条件标准。对于车厂的前装产品,厂家按照车厂得到要求试验条件进行试验,不必清楚原因。但对于后装产品,为了适应市场的需求,汽车电子产品需要根据标准制定环境试验的条件的项目。 汽车电子产品的应用环境包括电磁环境、电气环境、气候环境、机械环境、化学环境等。 ISO16750 是汽车电子产品环境试验的国际标准,各汽车厂商都遵照此标准对其产品进行电气环境应力试验,其对应的国标为:GB/T 28046.2‐2011。 泰克科技针对 ISO16750 标准试验的要求,采用高精度的硬件并结合软件开发了ISO16750‐2 的电源负荷的试验模拟系统,可以满足汽车电子产品的电源故障模拟试验需求。 试验系统概述 汽车电源故障模拟发生器 TAS16750 是为模拟车辆启动、开闭、电子装置的开 / 关或电池充 / 放电状态下变动或异常时,对车上电器和电子系统 / 组件的性能的考验而专门量身设计的,根据最新标准要求,试验的主要包含直流电压、过电压、叠加交流电压、电压骤降、电压启动、电压的缓升缓降、电压瞬时下降等十二项试验波形。 主要应用领域 ● 模拟汽车的蓄电池供电特性,测试其中的电子部件。 ● 汽车电子传感器、电子部件的特性测试 ● 汽车电子部件的静态特性测试其他特色功能       试验系统功能、特点 ● 符合 ISO 16750‐2:2012 标准电压变化测试等级要求 ● 可以直接选择 16750‐2 的测试项目和波形序列 ● 支持 12V 系统 ● 电压、电流测量波形显示 ● 测试类别选择:CLASS A,B,C,D,E ● 测试时间选择:0—99MIN ● 自定义波形、以符合整车厂商标准(TBD) ● 测试结果报告输出 试验系统技术规格   TAS-16750 软件功能及说明 TAS-16750 软件是符合 ISO16750-2,2012 标准的图形化的操作界面,具有操作简单、容易设置的特点。 一般的,工程师只要用 USB 或者 RJ45 网线连接仪器到电脑上,运行 TAS-16750 软件,选择仪器的地址,或者刷新找到仪器确认即可。 软件的主界面就可以选择 ISO16750-2 的试验项目,选择每个项目,运行,就可以对连接到仪器连接端子的 DUT 进行标准试验。       系统硬件提供更多的分析功能,并支持更多测试应用的开发。如下图的显示:内建数据显示、绘图和电子数据表输出功能,很容易将测试结果转化为有用信息。   方案配置 TAS-16750 汽车电源故障试验系统包括: ● SMU2460 试验电源 ● TAS-16750 软件 ● USB 电缆或网线 如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。    

  • 2022-05-12
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(十七)TSP-5000-LED LED 驱动电源...

    TSP-5000-LED LED 驱动电源测试 LED 驱动电源自动测试系统 系统背景 LED 作为当前最为节能的照明产品,经历了前几年高速增长,大量企业投入的繁荣,近几年随着厂商的激烈竞争,产品价格下降,市场技术要求的变高,逐渐步入行业正常的发展轨道。传统照明市场增速趋缓是现状,不过随着很多新的应用采用,例如汽车照明,植物照明,IR,VR 等,LED 厂商找到新的商机。 通过大量的市场调研,市场对 LED 行业尤其是驱动电源部分提出更高的要求,尤其是出口的产品。工程师需要花费大量的时间和精力进行产品的研发及测试工作,不但要保证基本的性能指标,还要面对越来越严格的行业内的各种标准的挑战。对此使用示波器,功率分析仪,电压电流探头及交流电源为 LED 驱动电源的研发和设计验证客户量身订做一套自动测试系统。 系统说明 TSP-5000-LED LED驱动电源自动测试系统,能为您提供 LED 驱动电源指标一键测试。系统核心使用泰克示波器及功率分析仪,通过强大的产品测试能力以及对 LED 行业测试规范的详细解读,为您提供一键式自动测试系统。通过上位机软件可以实现对测试条件的设定,软件简单易用,可以根据您的要求自行添加及减少测试项目,为更科学,准确的评价您的测试系统,提高工程师的工作效率提供坚实的保障。   测试系统特点 ● 配置简单,仪器设定由上位机软件完成 ● 测量效率高,至少提高 10 倍测试效率 ● 电流测试范围 1mA-20A,电压最高可以到 10mV-600V ● 功率测试精度高达 0.08% ● 可设定测试限值,测试过程一键完成 ● 自动生成测试报告,数据可后续处理 ● 对于整个系统各过程进行运行状态实时检查 其他特色功能 ● 为您提供符合 IEC62301 2.0 待机功耗一致性测试软件 ● 为您提供符合 IEC61000-3-2 电流谐波预一致性测试软件 TSP-5000-LED 软件配合泰克高精度仪器,简单方便的实现 LED 驱动电源的自动测试。 TSP-5000-LED 软件是对于 LED 驱动电源行业测试的项目及标准进行研究总结,罗列出较完整的电性能测试功能。能帮助您测试 LED 驱动电源的输入特性包括电压电流有效值,功率因数,电源谐波等参数;输出特性电压电流,功率,效率;时序和顺态特性,如开机时间,关机时间,上升时间,下降时间及开机过冲电流测试;驱动电源的标准测试,待机功耗 IEC62301 标准一致性测试,IEC61000-3-2 标准的预一致性测试;调光测试,调光电流,调光频率,占比调制等功能。该软件要求运行在 windows7 以上系统。 通过 TSP-5000-LED 软件,用户以往需要花费 2 个小时的测试可以在几分钟之内实现测量。在大多数情况下,用户只需要几步设置即可,具体的软件界面如下:     软件界面简单明了,遵从从左到右的逻辑,首先开始测量之前,进行仪器的配置,确定系统中需要的各种仪器是否连接正常。第二部进行参数设定,用户可以设定测试项目的限值,方便进行实测中比对。第三部进行测试项目勾选,将需要测试测试的项目勾选,然后开始测试,测试结果以数据及测试图形形式显示,可将数据存储于PC 硬盘中,用于非测试时在软件环境下进行深入分析。第四步将测试结果自动生成报告,数据是 Excel 方便后续进行数据的处理。另外,客户根据不同的测试产品可以保存系统的配置,后续进行同型号的测试可以直接调用配置,节省设定时间,保持前后测试条件一致。       本方案提供多种仪器配置,可以根据价格和性能,使用不同的仪器和连接方式进行测试分析。 系统配置 MDO3000/MDO4000C     混合域示波器 THDP0200               高压差分探头 TCP0030A                高精度电流探头 PA3000 或 PA1000 X2      高精度功率分析仪 可调交流电源   附件 USB 测试线        3 根 TSP-5000-LED LED    驱动测试软件 如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。

  • 2022-05-11
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(十六)TSE-1000 EMI 测试方案

    TSE-1000 EMI 测试方案 照明行业 EMI 预认证测试系统 系统背景     全世界都实施 EMI 法规,旨在为电气和电子设备用户提供更高的可靠性和安全性。如果您正在开发发射电磁干扰或受其影响的产品,则您需要认证自己的产品是否符合 EMI 标准。如果您的产品已经通过 EMI 认证,那么您肯定知道,为了最大限度地减少 EMI 信号以及EMC 认证失败所带来的影响,设计产品时就需要投入 大量时间和精力。 为了确保符合规定,许多公司历来都采用专业测试设施或测试机构的服务来执行 EMC 预认证和认证测试。遗憾的是,使用第三方测试机构可能会导致项目中的产品开发成本和时间大幅增加。因此,公司开始寻找和投资易于使用、经济实惠的预认证测试解决方案,以便在自己的工作区中使用,从而节省时间和资金。 EN55015《电子照明和类似设备的无线电干扰特性测量方法和限值》于 2007 年发布了增补件 A1。该标准适用的范围为:主要功能用于照明的照明设备、主要用于照明的多功能设备的照明部件、疝气广告标识、户外街灯、交通照明 ( 安装在公共汽车和火车内 )、UV 及 IR 辐射设备、专用于照明设备的独立辅件。主要规定了插入损耗的测试方法、干扰电压测试方法、辐射电磁干扰测试方法、干扰限值等。 EN55015 规范中,传导骚扰采用 LISN 测试方法,测试时需要由 EMI 接收机或频谱仪 + 人工电源网络(LISN)和测试软件进行。传导骚扰测试系统用于测量灯和灯具照明设备在正常工作状态下电源端口产生的骚扰,LISN 实现 RF 信号的隔离,采样,阻抗匹配,并为 EUT 提供电通道,EMI 接收机或频谱仪对 RF 信号进行测量,并最终由 EMI 测试软件进行分析,处理和判限。与此同时,EN55015 规范中规定,辐射测试即可以采用天线法,也可以采用 CDN 法进行测试。采用 CDN 法,主要包括 EMI 接收机或频谱仪,CDN 和衰减器。 EMI 测试通常在屏蔽室中进行,特别是用天线进行辐射骚扰测试时,如果不在屏蔽室进行测试,外界环境的背景噪声将严重影响测试结果的准确性。如果背景噪声已经超出规范中的门限,测试将无法进行。采样 CDN后,照明行业设备 EMI 测试对屏蔽室的要求大大降低,可以大大节约了预认证成本。 系统特点 TSE1000 照明行业 EMI 预认证系统,以实时频谱分析仪为核心硬件,依托于泰克综合 EMI 已认证软件EMCVu,辅以人工电源网络 LISN 及耦合/去耦网络CDN,构成针对照明行业的 EMI 预认证测试系统。 系统功能     系统特点 ● 针对照明行业 EN55015 EMI 预认证测试 ● 基于泰克实时频谱分析仪 ● EMCVu 多标准 EMI 预认证软件 ● 完备的测试附件 系统组成 RSA306B/RSA500’s/RSA600’s LISN ( 人工电源网络 ) CDN ( 去耦网络 ) EMI 分析软件 EMCVu 可选配:隔离变压器,限幅器,6DB 衰减器   如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。

  • 2022-05-10
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(十五)TPS-5000-CLR电源环路测试

    TPS-5000-CLR 电源环路响应测试方案 电源环路响应测试方案 系统背景 电源是现代工业的基石,为了设计出效率更高、噪声更小的电源类产品,工程师就需要花更多的时间和精力在电源的完整性上面(PDN),而针对电源完整性来说除了我们经常提到的开关损耗、输入电源质量、输出纹波测试等以外,我们还会涉及到环路响应测试,通过环路响应测试我们可以知道了解我们的反馈环路的稳定性到底如何,传统方法是利用网络分析仪、或者专有的设备来测试,但是相对来说这种测试成本就非常高了,而我们现在可以利用电源开发工程师现有的泰克设备来进行环路响应测试。 系统介绍  可以使用配有信号源的示波器测量反馈环路电路在其工作条件下的特性。在进行环路响应测量的时候需要利用响应的电路把 AFG 选件提供的扫频信号加到被测的反馈环路上,我们使用的是第三方(PICOTEST)的信号注入器 J2100A ( 频率范围:1Hz-5MHz)。利用上位机软件控制信号源将扫频信号输入到高阻抗输入端口,并利用示波器测量低阻抗端,随后把这两个测量结果进行比值计算得到最终的测量结果。注入的扫频信号幅度不能太高,以避免反馈环路进入非线性区域。应使用高输入阻抗的探头来完成探测,这样不会影响反馈环路的工作。在测量频率范围方面,通常是从 10 Hz 或 100 Hz 的低频处开始测量。但一般说来,对测量 DC-DC 变换器的环路特征最重要的频率范围主要是在几 kHz 到几百 kHz 之间,电路输出级 LC 滤波器的谐振频率和环路的交叉频率都在这个范围内。如果从这方面看,在低频范围内进行的测量不必非常严格。       此处的测量系统是一台内置 AFG 函数 / 任意波形发生器的 MDO 系列示波器,可以测量在反馈网络(Vin)的顶部和电源直流输出(Vout)上的交流电压电平。上位机还可以计算在扫描频段内每个测试频率点上的增益,dB= 20Log(Vout/Vin)。 同时还测量 Vin 和 Vout 之间的相位差。 当然在这里我们也可以将利用一台单独的信号源和一台独立的示波器来代替,这个因为他们实现的硬件功能是完全相似的,只需要更改一个软件即可。 测试软件界面如下图所示    如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 2022-05-09
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(十四)TVS-1000 VCSEL 测试系统

    TVS-1000 VCSEL 测试系统 3D Sensing VCSEL 测试方案 系统背景  3D 传感成为近两年较火热的话题,智能手机厂商,也在各自的旗舰手机中加入了 3D 传感功能,这使 3D 传感技术的核心组件 — VCSEL(垂直腔面发射激光器)的需求爆炸式增长。因此,VCSEL 供应链的相关厂商都已经在该细分市场积极布局,但据市场调研的情况来看,VCSEL 的LIV 电学以及 NF/FF 光学近远场、人眼安全等测试环节则属于整个产业链偏薄弱的环节、一直在制约着 3D模组的良率和产能的提高。       系统介绍   Solution Partner- 测试共同推出的VCSEL 测试系统 TVS-1000,整个测试系统由吉时利公司高精度电源 2602 和高精度七位半万用表DMM7510、近远场的光学镜头、积分球、图像分析软件、测试夹具以及伺服电机等部分组成。  TVS-1000 测试系统可以测试和评估 VCSEL 芯片的各项性能指标,包括LIV电学参数、光学近远场、坏点检测、人眼安全、可靠性、温度特性、NA、束腰等。 方案特点 ● 深度定制化,配置灵活,机台可以根据研发和产线需求选择手动和自动机台; ● LIV 测试、近场测试、远场测试整合在同一机台也可自由分拆; ● 测量精度高,抗干扰能力强,电流测量精度最高可达 100pA,分辨率 1pA ● 整个光学系统都严格校准,包含畸变校准、灰度校准、像素能量关联、积分球标定等,整个光学系统均可以溯源; ● 人眼安全测试、O/E 转换时间、芯片时域响应(Tr/Tf)等可按客户要求定制,所有测试规范均遵循IEC-60825 协议; ● 温度测试范围 10-85℃,也可以扩展到 0℃(需定制) ● 后期可以扩展升级,添加前端的自动上下料以及后端的分拣系统; ● 编程支持 C++\C## 和 Labview● 寿命老化检测功能:在恒定或脉冲条件下(电流、温度),每隔指定时间间隔测试记录一次光谱和功率数据 TVS-1000软件配合吉时利高精度源表+DMM7510+ 积分球(含 PD)完成 LIV 测试。   TVS-1000 测试系统主要有三种配置。分别针对不同的客户,根据自己的购买能力和测试指标需求选择不同的仪器来完成测试。 配置一 ( 全配置 )):主要针对模组厂,测试环节涵盖VCSEL 半成品以及成品模组测试、VCSEL 芯片的来料检测等; 配置二(电学 + 近远场二选一 + 人眼安全):主要针对 FAB 厂芯片自检、部分封装厂的成品检测,测试涵盖部分测试环节; 配置三 ( 纯定制化 ):主要针对 VCSEL 产业链的其他环节的客户,有强定制化需求,测试需要重新设计。 简易操作步骤 ● 选择测试设备并安装 DUT 芯片 ; ● 设置相应的测试项,设置 Spec; ● 启动,等待测试完成 ; ● 生成测试报告、导出数据和图形   系统配置 Keithley 2602          高精度大电流双通道源表 Keithley DMM7510     七位半高精度万用表 积分球               6 英寸直径、波长 800-1100nm 近场 CCD 相机        2000W 像素 + 高倍率镜头 ( 校准 ) 远场相机             500W 像素 + 广角镜头 ( 校准 ) 透射膜               透射率 50%、厚度 10um-100um 伺服电机             水平移动精度≤ 1um TEC 温控器           温度范围 10℃ -85℃   如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 2022-05-07
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(十三)TLS-1000 LIV 测试方案

    TLS-1000 LIV 测试方案 精密温控型多功能 LIV 光谱功率积分测试系统测试方案       系统背景 随着光电子技术和信息技术的发展,半导体激光器 (LD)在光纤通信,信息存储、光传输等领域得到了广泛的应用,作为系统的光源,LD 特性的优劣直接影响着系统的性能。半导体发光器件 LIV 光谱特性 ,需要精确地测试得到半导体激光器的 LIV 特性曲线和光谱相关参数。 LS-VCS-SCI-LIV 科研用 LIV 光谱功率积分系统 LIV 测试方案 ® 可以为客户提供 LD/LED 光电特性检测定制化解决方案,实现对 LD/LED 单体、模组、及芯片的LIV、EIV、TIE、PCE、光谱波长及功率测量等。   系统介绍  LS-VCS-SCI-LIV 精密温控型多功能光谱功率积分测试系统由泰克与合作单位专门针对基于脉冲 LD/LED 测试研发而成,该系统可用于对 LD/LED 光电特性检测,以保证 LD/LED 脉冲激光辐射光谱满足器件光学功能和人眼安全应用需求。 LS-VCS-SCI-LIV 精密密温控型多功能光谱功率积分测试系统主要针对 LD/LED 的芯片和模组的光电特性测量,根据 /LD/LED 的发散角和输出功率测量要求,可选择不同规格的积分球,积分球内径尺寸分为:2 寸、4 寸、6 寸。积分球带已标定功率探头,由于 LD/LED 发热量大,温度对 LD/LED 输出功率和输出光谱波长有很大的影响,因此需要对样品控温,配置温度控制模块,控温范围 -50℃ ~+225℃可选。 方案特点 ●  光谱峰值波长和半高全宽(FWHM) 测 量:400-1100nm,FWHM:0.1nm,最快可实现 2kHz 数据采集 ● 激光功率测量,最快可实现每秒 100k 采样点 ● 强大的分析专用软件可以扫描测量LIV曲线,PCE曲线,温度 - 峰值波长 - 光功率曲线 ● 可设置扫描精度和速度,可测量光电转换效率,自动保存测试数据 ● 采用四线测量方法,实时记录实测电流、电压值,功率值,测试更准确 ● 程序可设置连续及脉冲扫描两种模式 ● 寿命老化检测功能:在恒定或脉冲条件下(电流、温度),每隔指定时间间隔测试记录一次光谱和功率数据   具体测试软件界面如下:     系统配置 Keithely 2601B/2602B     大功率高精度电流源 Keithely 2651 Keithely DMM7510       高精度高速数字万用表 Keithely 2510            高精度数字温度控制器 LS-VS-SPEC-IRR-50        光谱功率积分球模块 LS-VS-SPEC-IRR-100 LS-VS-SPEC-IRR-150 LS-VS-SPEC-IRR-OEM LS-VS-PRB-HM       手动探针台装置 LS-VS-STAGE LED/LD  样品固定支架平台 LS-OPT-2412        光学防震平台 LS-VS-TEC          工业用高低温温度控制器 LS-VS-CTRSYS-IND    集成硬件控制平台 LS-VS-CTRSYS-Soft 软件测量控制平台 如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 2022-05-06
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(十二)TSP-2000-CV 分立器件特性测试

    TSP-2000-CV 分立器件 CV 特性测试 半导体器件 C-V 特性测试方案 系统背景 交流 C-V 测试可以揭示材料的氧化层厚度,晶圆工艺 的界面陷阱密度,掺杂浓度,掺杂分布以及载流子寿 命等,通常使用交流 C-V 测试方式来评估新工艺,材料,器件以及电路的质量和可靠性等。比如在 MOS 结构中, C-V 测试可以方便的确定二氧化硅层厚度 dox、衬底 掺杂浓度 N、氧化层中可动电荷面密度 Q1、和固定电 荷面密度 Qfc 等参数。 C-V 测试要求测试设备满足宽频率范围的需求,同时连线简单,系统易于搭建,并具备系统补偿功能,以 补偿系统寄生电容引入的误差。 进行 C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般这类测量中使用 的交流信号频率在 10KHz 到 10MHz 之间。所加载的 直流偏压用作直流电压扫描,扫描过程中测试待测器 件待测器件的交流电压和电流,从而计算出不同电压下的电容值。   在 CV 特性测试方案中,同时集成了美国吉时利公司 源表(SMU)和合作伙伴针对 CV 测试设计的专用精 密 LCR 分析仪。源表 SMU 可以输出正负电压,电压 输出分辨率高达 500nV。同时配备的多款 LCR 表和 CT8001 直流偏置夹具,可以覆盖 100Hz~ 1MHz 频 率和正负 200V 电压范围内的测试范围。 方案特点 ● 包含 C-V(电容 - 电压),C-T(电容 - 时间),C-F (电容 - 频率)等多项测试测试功能,C-V 测试最 多同时支持测试四条不同频率下的曲线 ● 测试和计算过程由软件自动执行,能够显示数据和 曲线,节省时间 ● 提供外置直流偏压盒,最高偏压支持到正负 200V, 频率范围 100Hz - 1MHz。 ● 支持使用吉时利 24XX/26XX 系列源表提供偏压   测试功能 ● 电压 - 电容扫描测试 ● 频率 - 电容扫描测试 ● 电容 - 时间扫描测试 ● MOS 器件二氧化硅层厚度、衬底掺杂浓度等参数的计算 ● 原始数据图形化显示和保存   MOS 电容的 C-V 特性测试方案 系统结构 系统主要由源表、LCR 表、探针台和上位机软件组成。 LCR 表支持的测量频率范围在 0.1Hz~ 30MHz。源表 (SMU) 负责提供可调直流电压偏置,通过偏置夹具盒 CT8001 加载在待测件上。  LCR 表测试交流阻抗的方式是在 HCUR 端输出交流电 流,在 LCUR 端测试电流,同时在 HPOT 和 LPOT 端 测量电压值。电压和电流通过锁相环路同步测量,可 以精确地得到两者之间的幅度和相位信息,继而可以 推算出交流阻抗参数。   典型方案配置     系统参数 下表中参数以 PCA1000 LCR 表和 2450 源表组成的 C-V 测试系统为例: 如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(十一)TSP-2000R 四探针法测试电阻率

    TSP-2000R 四探针法测试电阻率 四探针法测量半导体电阻率方案 系统背景 电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数,为了表 征工艺质量以及材料的掺杂情况,需要测试材料的电阻 率。半导体材料电阻率测试方法有很多种,其中四探针 法具有设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形 状无严格要求的特点。因此,目前检测半导体材料电 阻率,尤其对于薄膜样品来说,四探针是较常用的方法。 四探针技术要求使用四根探针等间距的接触到材料表 面。在外边两根探针之间输出电流的同时,测试中间 两根探针的电压差。最后,电阻率通过样品的几何参数, 输出电流源和测到的电压值来计算得出。 四探针法测量半导体电阻率测试方案,使用美国吉时 利公司开发的高精度源测量单元(SMU),既可以在 输出电流时测试电压,也可以在输出电压时测试电流。 输出电流范围从皮安级到安培级可控,测量电压分辨 率高达微伏级。支持四线开尔文模式,因此适用于四 探针测试,可以简化测试连接,得到准确的测试结果。   方案特点 ● 系统提供上位机软件,内置电阻率计算公式,符合 国标硅单晶电阻率测试标准,测试结束后直接从电 脑端读取计算结果,方便后续数据的处理分析。 ● 提供正向 / 反向电流换向测试,可以通过电流换向 消除热电势误差影响,提高测量精度值 ● 四探针头采用碳化钨材质,间距 1 毫米,探针位置 精确稳定。采用悬臂式结构,探针具有压力行程。 针对不同材料的待测件,提供多种不同间距,不同 针尖直径的针头选项 ● 探针台具备粗 / 细两级高度调整,细微调整时,高 度分辨率高达 2 微米,精密控制探针头与被测物之 间的距离,防止针头对被测物的损害 ● 载物盘表面采用绝缘特氟龙图层,降低漏电流造成的测试误差   软件功能 ● 输出电流并测试电压,电阻,电阻率,电导率,薄层电阻等,记录数据,并根据测试结果绘制曲线 ● 软件在 Windows 7/8/10 平台下使用,测试方法符合 GB/T 1551/1552 等国家测试标准 ● 提供多种修正参数帮助提高电阻率测试精度 ● 配合吉时利 2450/2460/2461 高精度源表使用,确保测试精度和一致性    系统结构 ● 系统主要由吉时利源表(SMU)、四探针台和上位 机软件组成。四探针可以通过前面板香蕉头或后面 板排线接口连接到源表上。     系统指标 ● 电阻率测试范围:0.001Ω • cm ~ 1MΩ • cm ● 探针头压力合力:S 型悬臂式弹簧,合力 6~10 N ● 绝缘电阻:500V 下 > 1GΩ ● 系统误差:< 2% (< 0.2% ● 针尖压痕直径:25 um~450um 不同规格可选 ● 通信接口:LAN/USB/GPIB ● 探针台尺寸:240mm x 160mm x 280mm 系统配置 ● 2450/2460 ● 四探针探针台 ● 四探针针头 ● 源表端四线香蕉头连接线 ● 四探针测试软件  如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。    

  • 2022-04-28
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(十)TSP-2000-I-V分立器件 I-V特...

    半导体分立器件 I-V 特性测试方案 TSP-2000-I-V 分立器件 I-V 特性测试 系统背景   半导体分立器件是组成集成电路的基础,包含大量的 双端口或三端口器件,如二极管,晶体管,场效应管等。 直流 I-V 测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的 基石。通常使用 I-V 特性分析,或 I-V 曲线,来决定器 件的基本参数。微电子器件种类繁多,引脚数量和待 测参数各不相同,除此以外,新材料和新器件对测试 设备提出了更高的要求,要求测试设备具备更高的低 电流测试能力,且能够支持各种功率范围的器件。        分立器件 I-V 特性测试的主要目的是通过实验,帮助工 程师提取半导体器件的基本 I-V 特性参数,并在整个工 艺流程结束后评估器件的优劣。 随着器件几何尺寸的减小,半导体器件特性测试对测 试系统的要求越来越高。通常这些器件的接触电极尺 寸只有微米量级,这些对低噪声源表,探针台和显微 镜性能都提出了更高的要求。 半导体分立器件 I-V 特性测试方案,泰克公司与合作 伙伴使用泰克吉时利公司开发的高精度源测量单元 (SMU)为核心测试设备,配备使用简便灵活,功能 丰富的 CycleStar 测试软件,及精准稳定的探针台,为 客户提供了可靠易用的解决方案,极大的提高了用户的工作效率。 方案特点 ● 丰富的内置元器件库,可以根据测试要求选择所需要的待测件类型 ● 测试和计算过程由软件自动执行,能够显示数据和曲线,节省了大量的时间 ● 精准稳定的探针台,针座分辨率可高达 0.7um,显微镜放大倍数最高可达 x195 倍 ● 最高支持同时操作两台吉时利源表,可以完成三端口器件测试 测试功能 ● 二极管特性的测量与分析 ● 双极型晶体管BJT特性的测量与分析 ● MOSFET场效应晶体管特性的测量与分析 ● MOS器件的参数提取  系统结构 系统主要由一台或两台源精密源测量单元(SMU)、 夹具或探针台、上位机软件构成。以三端口MOSFET器件为例,共需要以下设备: ● 两台吉时利 2450 精密源测量单元 ● 四根三同轴电缆 ● 夹具或带有三同轴接口的探针台 ● 三同轴 T 型头 上位机软件与源测量单元(SMU)的连接方式如下图 所示,可以使用 LAN/USB/GPIB 中的任何一个接口进行连接。     系统连接示意   典型方案配置 如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。    

  • 2022-04-27
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(九)TSP-2000-MICR 微小材料电阻测试

    半导体解决方案 TSP-2000-MICR 微小材料电阻测试  微小电阻测试方案 系统背景        电阻测试是表征材料特性的较常用的测试手段,在某 些应用中,用户需要进行极端微小电阻(Ultra-low resistance)测试,例如纳米材料,超导材料,继电器 开关,低电阻材料、连接器的测试,或者精密的热量 测定和研究领域。这些被测件通常具有非常高的导电 性和非常小的电阻阻值,对测试连接方案有很大挑战。 在进行这类材料和器件的测试过程中,为了最大限度 的降低被测设备的自热效应,确保待测件的安全和测 量的准确性,通常会使用加流测压的方式,在被测物 两端施加可控的微弱精密电流信号,通过欧姆定律测 定被测件的电阻阻值。   在微小电阻测试领域,泰克公司提供的微小电阻 测 试 方 案, 通 过 使 用 吉 时 利 高 精 度 电 流 源 622X (100fA~100mA 输出可调)或 2400 系列源表,以 及纳伏表 2182A(1nV 灵敏度)组合成为完备的测试 解决方案,完美解决了在微小电阻测试过程中经常遇 到的问题,使电阻测量灵敏度高达 10nΩ。 配合提供的上位机软件和测试 夹具,可以一站式解决用户在仪表与待测件连接,测 试结果存储,以及数据分析过程中遇到的繁杂问题, 提高测试效率。 方案特点 极高的电阻测试分辨率和大测试量程   相比其他方法,622X + 2182A 方案提供了高达 10nΩ 的电阻测试分辨率,提供了极高的性价比。 更好的发热控制   622X 电流源输出的电流分辨率高可以达到 100fA,可 以精确控制加载在待测件两端的电流大小,确保待测 件处在安全状态下 更先进的测试方法,消除热电动势   可以使用 Delta Mode 模式消除,自动触发电流源使 信号极性交替变化,电流反向法消除了任何恒定的热 电失调,确保测量结果反映真实电压值,大幅度降低 测量中的噪声信号 交钥匙方案设计,可以提供完整的测试夹具方案和上 位机数据采集处理软件   系统构成 系统主要由 622X 高精度电流源(或 2400 系列高精度 源表)、2182A 纳伏表、测试夹具、转接盒和上位机软 件构成。   622X 精密电流源可以输出正负电流,编程分辨率高达 100fA,6221 可以输出带宽在 1mHz ~ 100KHz 的交 流和任意电流波形。 2182A 具备 1nV 电压测试分辨率,提供两个独立测试 通道,可以与 622X 配合实现 Delta Mode 测试。   方案还提供专用转接头配件 CT-MICR-ADP,可以将 622X 和 2182A 的各种输出接口(插片或者鳄鱼夹) 统一转接为标准的 4 终端 BNC 接口,方便与其他夹具 或者探针台进行互连。   上位机测试软件 Cyclestar-MICR 提供了多种测试模 式,包括 R-T 功能,电流扫描测试功能,Delta Mode 模式。   软件的 Pro 高级版还集成了脉冲测试功能,微分电导 测试模式和 622X 任意波形输出功能。   一体化测试方案可以帮助客户在短时间内搭建起微小 电阻测试环境,针对不同物理尺寸,不同连接方式, 和不同测试方法都可以快速方便的进行连接测试,并 在电脑端直接记录获取数据进行后续分析。 系统结构   使用 CT-MICR-ADP 转接盒还可以将测试系统与探针 台或其他夹具进行连接   典型方案配置  

  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(八)泰克Power整体测试方案

    Agitek小编今天带您学习给西安电子科技大学实验室提供的方案:泰克Power整体测试方案。 Power测试方案 功率器件测试 —— 碳化硅、氮化镓器件的全桥测试 (一)• IsoVu™ 技术是一种全新的高电压隔离探测解决方案,提供了精确和可重复的结果将测试设备与示波器完全电流隔离。           •唯一同时提供杰出的带宽、动态范围、共模范围和共模抑制比的测量系统 。 ◦ 800M、1 GHz带宽 ◦ 60000V共模电压 ◦ 高达2500V差分电压 ◦ 杰出的共模抑制比 ▪ DC ~ 100 MHz:1000000:1 (120 dB) CMRR ▪ 1 GHz时10,000:1 (80 dB) CMRR         安泰测试-实验室用半导体动态参数测量系统 • 示波器MSO56+IGBT-TOWN软件*1 • THDP0200*2测量上、下管Vge,Vce • TPP1000*1(标配)测量下管Vge, TPP0850*1测量下管Vce • TRCP300/600/3000电流探头 • AFG31051*1 • 2200-20-5电源*1,提供驱动供电 • 600V/1500V/3000VDC电源*1,提供 Vbus供电 • 负载空芯电感(绕制) • 器件测试箱 • SIC的器件需要选择 • TIVH08*1测量上管Vge。 • GAN的器件需要选择 • TIVM1*1测量上管Vge。   板级测试 —— 开关损耗分析 测试难点: 1. 如何针对导通压降和关断 电压的大动态范围的开关 信号进行测试? 2. 由于开关点震荡的存在导 致开关周期无法准确判断? 开点损耗+闭点损耗+导通损耗 12位ADC+低噪声+新算法   板级测试 —— SOA安全工作区 • 更直观的观察到不同 负载下的功率器件是 否会出现超标 • 边界条件可设 , 可存 、可调出   板级测试 —— 开关损耗分析   磁性器件的磁特性分析 计算磁性器件的功耗 • 磁特性(BH曲线 ) • 电感 • I Vs Int V • 磁损耗 • 得到总的磁损耗 • 铁芯损耗 • 铜损 • 能测试多个次级绕组   Power测试方案 板级测试——环路测试、电源抑制比、阻抗测试测试 环路响应                    DC-DC 变换器的详细原理图。由R1 和R2 所分担的输出电压被反馈到误差放大器,误差放大器将反馈电压与稳定的参考 电压Vref 进行比较,输出与这两个电压之差成比例的输出电压。脉宽调制器 (PWM) 提供的脉冲其占空比由误差放大器的 输出电压决定, 此脉冲可以接通或断开MOSFET 开关。当反馈电压低于Vref 时,反馈系统会延长周期Ton 以提高输出电 压。当反馈电压高于Vref 时,反馈系统会缩短周期Ton 以降低输出电压。这样就能获得一个稳定的DC 输出电压。C1、C2、 C3、R3、R4以及R1 和R2等元器件共同调节误差放大器的增益和相位时延,从而提高反馈环路的稳定度 (反馈补偿)   Power测试方案 整体性能评价——EMI测试 全功能 EMC 测试系统: • 辐射骚扰 • 传导骚扰 • EMI 诊断 快速、简便易用: • 故障定向的准峰值加拨 • 测试向导内置通用EMI标准 高精度: • 预定义测试附件的增益与衰减 • 随机噪声比较 自动生成测试报告: • PDF, RTF 等格式报告   如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

  • 2022-04-26
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(七)泰克MSO6B系列混合信号示波器...

    Agitek小编今天带您学习给西安电子科技大学实验室提供的方案:泰克MSO6B系列混合信号示波器应用。 全新MSO6B系列 混合信号示波器 B 版本新增功能     更多通道:4、6 和 8 通道型号 噪音更低:在所有垂直范围内具有行业领先的噪声性能(满刻度百分比) 带宽更高:1-8 GHz 仍然可用。已添加 10 GHz 采样灵活: 2 通道采样率为 50 GS/s 4 通道采样率为 25 GS/s 4 通道以上采样率均为 12.5 GS/s 安全简化:所有用户数据均存储于可移动固态硬盘驱动器上 MSO6B示波器应用        【1】电源完整性和电源管理     如今的电路板可以有 20 个或更多的电源轨。许多电压低于3 V,大多数具有噪音限制。需要特别注意准确测量噪音。 特点 低测量系统噪音 兼容低噪音 TPR 系列电源轨探头 配合低噪音 TPR 系列纹波探头 SVID 和 SPMI 解码选项 阻抗测量 【2】抖动分析    时钟在每个嵌入式系统和数字通信链路的中间位置。 抖动和其他时钟失真可能会影响系统运行,而不使用正确的分析工具将很难了解其根源。 特点 标准相位噪声、时钟抖动和定时以及波形直方图 选配高级分析、抖动分解和时钟恢复 【3】VectorSignalAnalysis      使用 SignalVu-PC 矢量信号分析软件执行高级宽带射频分析,分析带宽高达 2 GHz。 射频测量 调制分析 星座图 误差矢量幅度 脉冲射频测量   【4】串行标准一致性测试      高速数字接口依赖严格的测试程序来确保可靠性和互操作性。自动化一致性测试软件管理整个测试过程 - 设置、测量、按照极限检查并生成全面报告。 特点 以太网 10/100/1000BASE-T、NBASE-T 和 XGBT 汽车以太网 10/100/1000BASE-T1 MIPI D-PHY 1.2 汽车以太网 100/1000BASE-T1   【5】电磁干扰 (EMI) 故障排除          6 系列 MSO 上的每条模拟通道都可以显示时域波形、频谱或两者。时间和频率图同步,帮助您快速确定哪些信号被干扰,哪些信号是干扰源。  【6】三相逆变器、电机和驱动器      逆变器、电机和驱动器分析包可轻松在三相 PWM 系统上执行稳定、可靠的功率测量。 特点 多达 8 条模拟输入通道 三相星形、三角形和单相布线配置 全方位功率测量 谐波分析    如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。

  • 2022-04-25
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(六)KAC-100T 信号采集处理回放系统

    Agitek小编今天带您学习给西安电子科技大学某实验室提供的解决方案:KAC-100T 信号采集处理回放系统。 KAC-100T 信号采集处理回放系统 复杂射频信号的采集、记录与复现解决方案 系统背景     射频信号采集 / 回放系统广泛应用于电子对抗、频谱监测、安全、气象、通信、教学等领域。它既可以将复杂的空中信号实时采集记录下来,进行分析和算法研究,又可以通过硬件回放模拟真实的工作环境,为各类接收机的开发和调试提供稳定、可靠、可重复使用的信号源,减少现场测试的时间和开发成本。 基于通用仪器,配合相关软件实现的射频信号采集 - 处理 - 回放系统,外形小巧,功能完备,能满足多种用途需要。配合的频谱分析和信号回放软件,以及不同的射频前端与调制器,系统可以根据用户需要定制和扩充,其通用性能得到极大提升。 系统介绍 ● 近几年来,安泰测试推出各种实验室方案,主推各种测试仪器,如其中的RSA300/500/600 系列便携式实时频谱分析仪,可 以在 18GHz 的频段内,提供最高 40MHz 的采集和 分析带宽;而小尺寸 TSG4000 系列矢量信号源,同样可在 6GHz 的频段内,提供最高 400MHz 的调制带宽。这些仪器紧凑小巧,性价比高,作为通用仪器时,为用户提供了更多的好选择,而将它们集成到射频信号采集和回放系统时,可以在保证指标的基础上有效地减小系统体积和重量,同时享受安泰测试有限公司的维修和保障服务。 方案特点 其中,KAC-100-T306,KAC-100-T518,KAC100-T607这三款均基于便携式实时频谱分析仪。泰克的RSA300/500/600 系列频谱分析仪由于使用了 USB3的高数据传输速率,可以支持直接往高性能的固态硬盘写入数据的能力。这是目前通用仪器中特有的:无需数据接口卡和专用盘阵,甚至无需外接电源(RSA300和 500 系列),即可实现海量数据采集! 这三型采集回放设备可以有以下几种配置: 最简配置:一台有高性能固态硬盘和支持 USB3.0以上的 PAD,直接连接 RSA300/500/600 系列即可。 这种配置的特点是小巧,便携性好。但缺点是工作时间短(电池所限),存储时间短(PAD 支持的固态硬盘一般在 500G 以内),结构上较为脆弱,需小心使用;   便携式配置:将 RSA 放进便携式加固机箱,配合高性能 SSD 硬盘,可以在保证便携性的同时,提高抗震防水能力,提高存储器容量;还可以将回放板卡一同放进机箱;   大存储配置:在 B 配置的基础上,大存储配置:在B 配置的基础上,再配合盘阵,实现更大数据量要求的系统; 在软件方面,便携式实时频谱分析仪均配置了SignalVu-PC 矢量信号分析软件,可以完成对信号采集的基础控制功能。但 SignalVu 的最大优点是强大的通用信号分析能力,在采集数据、数据处理、数据切割、和回放系统对接这些方面功能较弱。为了提升泰克 RSA 数据采集和回放方案的完备性,专门开发了和原软件互补的信号存储、浏览、处理和回放控制软件SignalMgr(暂定名)系列,让这一系统的工作更加便捷顺畅。     系统配置   回放硬件上,此方案提供了海量缓存的基带板作为回放基带源。而 IQ 调制器可采用通用仪器来实现,通用仪器的优点在于产品成熟度高、性能稳定、后续维修维护能力强。 TSG4000 系列矢量信号发生器,外观小巧,性价比高,能在 6GHz 频带范围内实现最高达 400MHz 的调制带宽,是一种理想的选择。   利用泰克便携式实时频谱分析仪 RSA300/500/600 作为射频端,TSG4000 系列矢量信号发生器作为回放后级,配合数据存储设备和回放基带板,辅以 SignalMgr 信号采集和回放控制软件,可以实现操作简便功能完备的闭环系统. 如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。

  • 2022-04-24
  • 发表了主题帖: 安泰测试给西安电子科技大学某实验室提供方案—(五)KSA-5000A LoRa 测试方案

    Agitek小编今天带您学习给西安电子科技大学实验室提供的方案:KSA-5000A LoRa 测试方案。 KSA-5000A LoRa 测试方案 IoT 行业 LoRa 测试方案 系统背景   物联网应用中的无线技术有多种,可组成局域网或广域网。在低功耗广域网(Low Power Wide Area Network, LPWAN)产生之前,似乎远距离和低功耗两者之间只能二选一。当采用 LPWAN 技术之后,设计人员可做到两者都兼顾,较大程度地实现更长距离通信与更低功耗,同时还可节省额外的中继器成本。 LoRa 是 LPWAN 通信技术中的一种,是 Semtech 公司采用和推广的一种基于扩频技术的超远距离无线传输方案。这一方案改变了以往关于传输距离与功耗的折衷考虑方式,为用户提供一种简单的能实现远距离、长电池寿命、大容量的系统,进而扩展传感网络。目前, LoRa 主要在全球免费频段运行,包括 433、868、915 MHz 等。LoRa 技术具有远距离、低功耗(电池寿命长)、多节点、低成本的特性。 系统介绍 KSA-5000A 符合 Semtech 的 LoRa 标准,以矢量信号源及实时频谱分析仪为核心,应对物联网应用中 LoRa 系统的设计验证 需求,为基于 LoRa 技 术的器件或设备的研发、生产及调测通过专用工具。 方案特点 ● 验证测试,满足 SEMTECH 测试标准 - 输出功率 - 频率容限 - 接收灵敏度 ● 研发调测 - LoRa 信号发生 - LoRa 信号接收测试 - LoRa 信号频谱测试 ● 一键式 LoRa 标准验证 ● 一键式标准验证,完成 LoRa 测试标准建议的全部收发指标。 ● 测试项目及门限事先编辑在指定路径,避免界面误操作。 ● 自动生成测试报告 ● 前面板“通过 / 不通过”指示灯 ● 测试项目“通过 / 不通过”指示灯 ● LoRa 设备研发调测 ● 满足 Semtech 标准的收发半双工测试 ● 控制 DUT 发射信号,用内置频谱仪测试 DUT 性能 ● 控制 DUT 发射 CW/FSK/LoRa 模式的信号   1. LoRa 模式下,全部 LoRa 参数均可设置 2. 状态栏反馈控制状态 3. 内置高精度标准信号源产生标准信号,测试 DUT 接收性能       内置实时频谱仪 ● 多种测试功能可对 LoRa 信号进行深入分析 - 多达 17 种测试项目满足 LoRa 信号测试基本需求 - DPX 实时频谱显示可捕捉瞬态干扰 - 三维频谱及频率随时间变化图可以分析 LoRa 信号的变频规律         如需了解更多,欢迎您了解西安安泰测试设备有限公司,访问安泰测试网。  

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