高七七

  • 2021-10-22
  • 发表了主题帖: 电路板元器件识别和检测 | 创芯检测

    对于刚入门的电子技术者来说,掌握基本的电路原理,元器件的作用特性与检测,怎样分析原理图等工作,这些都是基本功,都需要掌握好。这里说说如何识别电路板上的元器件?电路板经常需要维护,那么工业PCB电路板的维护有哪些规律呢?电路板上的元器件不仅要认识,维修时更要了解电路板上的易损件。 电路板上的元件布局与原理图有着很大的出入,会让初学者感到“错综复杂”,其实认识PCB上的元器件有技巧。 1、在实际分析电路板时,首先根据其外形,看这个元器件像见过的什么元器件,不过这点准确率不高,得靠平时多看,见够识广。 2、其次结合元器件本身的印字来识别,一般来说印字表述着某些参数或型号,当然也有生产厂家批号、版本号等属性,部分国际认证的符号也有,这个方法也要靠平时对元器件型号、参数等的了解程度。再次可以拆开元器件看看内部结构,某一类型、系列的元件,有着相同或相似的结构特点,拆得多了,对元器件内部结构、工作原理也更熟悉。可以把尽可能多的元器件拆开,进一步提升自己的基本元器件知识。 3、元器件在电路板上的,那么根据板上的元器件符号和丝印判断。如果标R12那就是电阻,在电路中编号为12。X、Y、Z都可以表示晶振,同时还可以根据其所在电路来判断元器件的功能,进而分析出其属于哪类元器件,这可更需要你对基本电路的熟悉。 一、设计不合理的地方最容易出故障 工业电路板设计不合理的地方有哪些?首先是散热问题,很多电路板因为散热设计不好而损坏;其次是印刷板的铜箔线。质量差的电路板供电线的铜箔很细,容易因为过流而烧坏,使主板无法工作。 1.经常使用的地方容易发生故障,例如,工业电路板的驱动电机、转轴、开关电源的开关管、操作面板的常用按钮等。 2.负荷重、功率大、工作电压高的部件最容易出故障。工业电路板的电源、驱动电路、功率控制器件、运输和放电是最容易损坏的。这些部件通常靠近散热器。如果保护措施不够,散热不好,很容易成为第一个受害者。 3.保护电路最易损坏。电路板上所有昂贵的芯片或部件都有保护。一旦设备出现异常,这些保护电路将首先牺牲。维修时,这些保护装置应一眼就能识别出来。 4.内联座.接插件的接口和排线易接触不良或断线。比如板卡与插槽接触不良,电缆内部断裂时通常不通,电缆插头与接线端子接触不良,元件虚焊等等。 二、工业电路板常用部件损坏的特点及检测 工业电路板的损坏通常是某个部件的损坏,可能是某个芯片、某个电容器甚至一个小电阻。维护过程是找出损坏的部件进行更换。 1.电阻小,容量大的电容易坏 电阻值小的电阻常用于供电线路的限流,即起到保险丝的作用,如果电流过大,首先会烧坏。此外,供电线路上使用大量对地电容进行滤波,个头和容量一般较大,如果电压或电流不稳定,就会击穿电容,造成漏电。 2.电容损坏的故障特性及维护 电子设备中电容损坏引起的故障最多,尤其是电解电容损坏。电容器损坏表现为:1.容量减小;2.完全失去容量;3.漏电;4.短路。 3.判断放大器好坏的方法 无论什么类型的放大器,都有反馈电阻Rf,所以我们可以在维护时从电路上检查反馈电阻,用万用表检查输出端和反向输入端之间的电阻。如果大离谱,比如几ω以上,我们大概可以肯定器件是用来做比较器的;如果这个电阻值小0ω到几十ω,检查输出端和反向输入端之间是否有电阻,如果有,一定要做放大器。按照放大器虚短的原理,也就是说,如果放大器工作正常,其同向输入端和反向输入端的电压必然相等! 三、检修做到心中有框图 如何在缺乏相关资料的情况下修复工业设备?能举一反三,一通百通。例如,开关电源总是离不开振荡电路、开关管、开关变压器等。检查时,检查电路是否振动,电容是否损坏,三极管和二极管是否损坏。此外,维修时要注意维修顺序,才能找到解决问题的最短路径,避免乱捅乱拆,维修不成,造成故障扩大。 总结,由于技术、生产和厂家原因,同一种元器件会存在形状、结构、材料的各异,更多的了解积累会有很大帮助。希望这篇文章对大家有所帮助,我们将在后期带来更多精彩内容。我们的检测服务范围包括:电子元器件测试验证、IC真假鉴别产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。热忱欢迎来电,我们将竭诚为您服务。 原文链接:https://www.iclabcn.com/478.html 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975;0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com QQ:2355636767;004549392;3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 断裂失效分析原因及解决办法 | 创芯检测

    断裂是指金属或合金材料或机械产品在力的作用下分成若干部分的现象。它是个动态的变化过程,包括裂纹的萌生及扩展过程。断裂失效是指机械构件由于断裂而引起的机械设备产品不能完成原设计所的功能。 断裂失效类型有如下几种: ①解理断裂失效;②韧窝破断失效;③准解理断裂失效;④疲劳断裂失效;⑤蠕变断裂失效;⑥应力腐蚀断裂失效;⑦沿晶断裂失效;⑧液态或固态金属脆性断裂失效;⑨氢脆断裂失效;⑩滑移分离失效等。 检测目的:查找断裂原因进行断裂失效分析时,首先要了解失效分析程序。因为机械构件多数是在运行过程中发生断裂失效的,每当一个零部件断裂损坏时,它和别的零部件、周围环境和操作人员等均有着十分密切的关系。查找原因时要从设计水平、材料质量、加工状态、维修情况、装配精度、工作环境、服役条件和操作方法等因素中找出造成损坏的主要原因,并根据损坏的原因、机理、类型和阶段,进行分析判断,制定出改进措施。   断裂过程是个动态过程,对断裂直接进行观察分析是比较难的;而断口是断裂的静态反应,如果对断口进行仔细观察和分析就能找出断裂的原因、机理等。因为断口如实地反映了机械构件断裂的全过程,及机械构件裂纹的萌生与扩展过程,断口分析是机械构件断裂失效分析的一个重要手段。为了取得更好的分析效果,对这一分析手段还必须辅以一系列其他的检验方法,如无损检测、机械性能试验、金相检验、化学分析、X射线分析、断裂韧性试验、电子能谱分析、模拟试验等。最后将上述分析和试验的结果与数据进行综合分析,并提出改进措施,写出失效分析报告。 SMT贴片元器件断裂的原因: 1. 对于MLCC电容器,其结构由多层陶瓷电容器叠置而成,因此它们的结构较弱,强度低,具有极强的耐热性和机械冲击力,这在波峰焊中尤为明显。 2. SMT贴片加工过程中,贴片机Z轴的吸放高度,特别是一些不具备Z轴软着陆功能的贴片机,吸收高度取决于芯片元件的厚度,而不是通过压力传感器,因此部件厚度的公差会导致开裂。 3. 焊接后,如果PCB上存在翘曲应力,则很容易引起元器件开裂。 4. 拼接中的PCB应力也会损坏组件。 5. ICT测试期间的机械应力导致设备破裂。 6. 组装过程中的应力会导致紧固螺钉周围的MLCC损坏。 SMT贴片元器件解决方法: 1. 仔细调整焊接工艺曲线,特别是加热速度不要太快。 2. 在放置期间,请确保适当的放置机器压力,尤其是对于厚板和金属基板,以及陶瓷基板安装MLCC和其他脆性器件,要特别注意。 3. 注意切刀的放置方法和形状。 4. PCB的翘曲度,尤其是焊接后的翘曲度,应进行专门校正,以免因大变形而引起的应力对器件的影响。 5. 在PCB设计期间,避免MLCC和其他设备的高应力区域。 以上便是此次创芯检测带来的“断裂失效分析”相关内容,希望能对大家有所帮助,我们将于后期带来更多精彩内容。公司检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。 原文链接:https://www.iclabcn.com/477.html 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975;0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com QQ:2355636767;004549392;3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 电特性测试(Pin Correlation Test)

    电特性测试(Pin Correlation Test) 根据规格书中厂商所指定的器件引脚及相关说明,使用半导体管特性图示仪,通过开路、短路测试检查芯片是否有损坏。   电特性测试图片:     电特性测试设备图片:     公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 新产品开发测试(FT)(New product development test)| 创芯检测

    新产品开发测试(FT)(New product development test) 描述:通过测试设备,按照新产品规格要求,编写测试向量,可抽检、批量性、帮客户开发测试,一般产品封装后方可进行测试(成测)。   新产品开发测试(FT)图片:     公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 外观检测( External Visual Inspection) | 创芯检测

    外观检测( External Visual Inspection) 描述: 外观测试是指确认收到的芯片数量,内包装,湿度指示,干燥剂要求和适当的外包装。其次对单个芯片进行外观检测,主要包括:芯片的打字,年份, 原产国,是否重新涂层,管脚的状态,是否有重新打磨痕迹,不明残留物,厂家logo的位置。 应用范围:根据相关检测标准,判定芯片是否全新,是否翻新,管脚有否上锡,氧化等。 外观检测图片:   外观检测设备图片:       外观检测介绍:       外观缺陷检测对于电子、精密五金、印刷、塑胶等行业来说,是非常重要的一环,无论是用户还是生产企业对产品的外观缺陷都很非常重视,因此,外观视觉检测成为了很重要的一环。       外观检测的内容:       1、封装体检测的内容包括:刮痕、污迹、破损、未灌满、外溢等。       2、印刷检测的内容包括:错字、偏移、漏印、多印、模糊、倾斜、位移、断字、双层印、无字模等。       3、管脚检测的内容包括:管脚缺失、管脚破损、管脚间距、管脚宽度、管脚弯曲度、管脚跨距、管脚长度差异、管脚站立高、管脚共面度、管脚倾斜等。       形貌观察与测量意义       ①材料表面的微观几何形貌特性在很大程度上影响着它的许多技术性能和使用功能。       ②观察材料表面形貌,为研究样品形态结构提供了便利,有助于监控产品质量,改善工艺。       应用领域       材料、电子、无铅焊接、机械加工、半导体制造、航空、汽车、陶瓷品、地质学、医学、冶金等。       测试流程       样品要求       电子显微镜观察样品要求:非磁性或弱磁性,不易潮解且无挥发性的固态样品,小于8CM*8CM*2CM。       光学显微镜观察样品要求:无特殊要求。       测试步骤       确认样品类型→确认检验规范→观察样品→记录观察现象/测量数据评定→结果评定 公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 编带(Tape and reel )| 创芯检测

    编带(Tape and reel ) 编带(通过专业半导体编带设备把散装的芯片编成卷带并包装成卷盘,供工厂SMT贴片上机使用)。    编带图片:   公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 开盖测试 (Decapsulation)| 创芯检测

    开盖测试 (Decapsulation) 描述:开盖(解封)主要是利用仪器将芯片表面的封装腐蚀,检查内部是否存在晶圆,晶圆的大小,厂家的标志,版权年份,晶圆代码,能确定芯片的真实性。 应用范围:验证芯片真伪及失效分析等。 开盖测试图片:     开盖测试设备图片:         开盖测试介绍       开盖测试又称DECAP,属于破坏性实验,是使用化学试剂方法或者激光蚀刻将元器件外部的封装壳体去掉,用以检查晶粒表面的原厂标识、版图布局、工艺缺陷等,开盖测试是一种辅助测试手段。       开盖(解封)范围       普通封装COB、BGA、QFP、QFN、SOT、TO、DIP、BGA、COB陶瓷、金属等其它特殊封装。一般的有化学(Chemical)开封、机械(Mechanical)开封、激光(Laser)开封、PlasmaDecap       Decap实验室可以处理几乎所有的IC封装形式(COB.QFP.DIPSOT等)、打线类型(AuCuAg)。       开盖(解封)注意事项       所有一切操作均应在通风柜中进行,且要戴好防酸手套。       产品开帽越到最后越要少滴酸,勤清洗,以避免过腐蚀。       清洗过程中注意镊子勿碰到金丝和芯片表面,以免擦伤芯片和金丝。       根据产品或分析要求有的开帽后要露出芯片下面的导电胶或者第二点.       另外,有的情况下要将已开帽产品按排重测。此时应首先放在80倍显微镜下观察芯片上金丝是否断,塌丝,如无则用刀片刮去管脚上黑膜后送测。       注意控制开帽温度不要太高。 公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 2021-10-21
  • 发表了主题帖: 可焊性测试(Soderability Test)| 创芯检测

    可焊性测试(Soderability Test)     描述:根据可焊性测试的测试标准,这个测试主要检测芯片管脚的上锡能力是否达标。      可焊性测试图片:         可焊性测试设备图片:         可焊性测试概念       电子产品的组装焊接过程中,对电路板、元件可焊端或锡膏,助焊剂质量的不良选择就会造成焊接问题,直接影响到产品的质量。主要的焊接问题包括不良的润湿、桥接、裂纹等,会增加质量控制工作量和产生大量的维修,造成人力和财力的浪费,如假焊、虚焊和焊接强度差等,将直接导致可靠性问题。可焊性测试通过对来料进行可焊性方面的测试,量化评估被测样品的可焊性优劣,直接对来料是否可投入生产或经过工艺窗口的调整后方能投入生产提供指导。对于元器件批次来料,由于产量小导致存放时间长的单位,可焊性测试更具意义,可在元器件使用前对其进行可焊性评估,以确定此批元器件的使用是否会导致焊接质量问题的发生。       可焊性测试原理       可焊性测试是通过对样本的选择、焊接过程模拟,根据测试结果来确定样品的质量。在电子行业,可焊性试验在评估安装样件的影响时,通过测量所用锡膏和助焊剂的质量,焊接工艺质量等进行。润湿天平(或润湿平衡)试验方法是通过传感器检测到小的受力水平,结合时间来测定锡和快速润湿的强度。具体的样品被放置在夹具上,样品浸入规定温度的焊料过程中,通过传感器将力和时间数据传送到上位机,通过软件形成曲线和数据文件,对焊接质量进行准确、定量评价。       可焊性测目的及意义       可焊性测试一般是用于对元器件、印制电路板、焊料和助焊剂等的可焊接性能做一个定性和定量的评估。在电子产品的装配焊接工艺中,焊接质量直接影响整机的质量。因此,为了提高焊接质量,除了严格控制工艺参数外,还需要对印制电路板和电子元器件进行科学的可焊性测试。       通过实施可焊性测试,帮助企业确定生产装配后的可焊性的好坏和产品的质量优劣。微谱技术在实践操作中,进一步丰富了对印制电路板等元器件的可焊性测试技术手段,明确了影响可焊接性的内在因素,对制造业的技术工程师提高产品质量和零缺陷的焊接工艺给予了极大的帮助。       可焊性试验技术的发展趋势       可焊性测试一般是用于对元器件、印制电路板、焊料和助焊剂等的可焊接性能做一个定性和定量的评估。在电子产品的装配焊接工艺中,焊接质量直接影响整机系统的可靠性质量。       通过实施可焊性测试,帮助企业确定生产装配后的可焊性的好坏和产品的质量优劣。微谱技术在实践操作中进一步丰富了对印制电路板等元器件的可焊性测试技术手段,明确了影响可焊接性的内在因素,对制造业的技术工程师提高产品质量和零缺陷的焊接工艺给予了极大的帮助。       国际上各大标准组织(IEC、IPC、DIN、JIS等)推荐了各种方法,如《J-STD-002B2003-2元件、接线片、端子可焊性测试》《J-STD-003B(2007-3)印刷电路板可焊性测试》《IPC-TM-6502.4.1金属表面可焊性》《GB/T4677印制板测试方法》《IEC60068-2-58/IEC60068-2-20可焊性及热应力试验》等标准都可以进行不同类别的可焊性试验,但是无论从试验的重复性和结果的易于解读性,润湿平衡法(WettingBalance)是目前公认的进行定性和定量分析的可焊性测试方法。       通过将试样浸润到焊料内,模拟焊接过程传到图像记录仪,在计算机上形成可焊性曲线。润湿平衡法是将样品放置在一个特殊的夹具,沉浸在设定温度的锡膏里。在此期间,通过力传感器将数据传输到计算机,通过软件生成曲线和数据文件,准确和定量的评估的焊接质量。这种测试方法需要大量的设备投入,对测试环境有一定的要求,测试结果准确且有说服力。   公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 关键功能测试(Function Testing)

     关键功能测试(Function Testing) 描述:关键功能测试又称为主要功能检测。指在特定工作条件(即器件正常使用环境,通常为常温),器件正常工作的状态下,进行各种必要的逻辑或信号状态测试。此测试依据原厂规格书以及行业标准或规范,设计可行性测试向量或专用测试电路,对检测样片施加相应的信号源输入,通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等特定条件,分析信号的逻辑关系及输出波形的变化状态,检测器件的功能特性。 应用范围:所有半导体器件的关键功能验证。   关键功能测试设备图片:     关键功能测试设备图片:   公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 烘烤(Baking )| 创芯检测

    烘烤(Baking ) 描述:标准的专业烘烤和真空包装,能使芯片避免潮湿侵害,保持芯片可用性和可靠性,参考标准J-STD-033B.1.。 应用范围:所有PCB板,半导体器件的烘烤。 烘烤图片:   公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: X-Ray 检测 | 创芯检测

    X-Ray 检测  描述:X-ray测试是实时非破坏性分析以检查元件内部的硬件组件,主要检查芯片的引脚框架,晶圆尺寸,金线绑定图,ESD的损坏和孔洞, 客户可提供良品进行对比检查。 应用范围:金属材料及零部件、塑胶材料及零部件、电子元器件、电子组件、LED元件等内部的裂纹、异物的缺陷检测,BGA、线路板等内部位移的分析;判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷情况分析等。   X-Ray检测图片:     X-Ray检测设备图片:     X-Ray检测介绍:       X射线(X-ray)检测仪是在不损坏被检物品的前提下使用低能量X光,快速检测出被检物。利用高电压撞击靶材产生X射线穿透来检测电子元器件、半导体封装产品内部结构构造品质、以及SMT各类型焊点焊接质量等。       X-Ray检测内容:       1)IC封装中的缺陷检验如:层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性检验;       2)印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如:对齐不良或桥接以及开路;       3)SMT焊点空洞现象检测与量测;       4)各式连接线路中可能产生的开路,短路或不正常连接的缺陷检验;       5)锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验;       6)密度较高的塑料材质破裂或金属材质空洞检验;       7)芯片尺寸量测,打线线弧量测,组件吃锡面积比例量测。       X-Ray检测步骤:       确认样品类型/材料的测试位置和要求→将样品放入X-Ray透视仪的检测台进行X-Ray透视检测→图片判断分析→标注缺陷类型和位置。       X-Ray检测项目:       1、集成电路的封装工艺检测:层剥离、开裂、空洞和打线工艺;       2、印刷电路板制造工艺检测:焊线偏移,桥接,开路;       3、表面贴装工艺焊接性检测:焊点空洞的检测和测量;       4、连接线路检查:开路,短路,异常或不良连接的缺陷;       5、锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验;       6、高密度的塑料材质破裂或金属材质检验;       7、芯片尺寸量测,打线线弧量测,组件吃锡面积比例量测。   公司简介       深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。   联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 编程烧录 (Programming) | 创芯检测

    编程烧录 (Programming) 描述:实验室配备多种烧录设备,能支持检测来自405个IC 生产厂商生产的103477种IC的编程烧录。提供包括: EPROM,并行和串行EEPROM,FPGA,配置串行PROM,闪存, BPROM,NOVRAM,SPLD,CPLD,EPLD,微控制器,MCU和标准的逻辑器件的检测。 应用范围:所有可支持烧录的芯片测试。 编程烧录 (Programming)图片:     公司简介     深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。 联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 包装与物流(Packaging and Logistics) | 创芯检测

    包装与物流(Packaging and Logistics) 描述:测试服务的最终步骤是包装和发货,我们对这个环节的重视不亚于其它的测试项目,我们认识到将元件及时安全地运回给客户的重要性, 提供完整的包装和运输服务,协助您将货物输往你指定目的地。    包装与物流图片:   公司简介     深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。 联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 加热化学测试(Heated Chemical Test) | 创芯检测

    加热化学测试(Heated Chemical Test) 描述:HCT 是指将芯片放入化学试剂加热到一定的温度,通过化学试剂的腐蚀性剥离芯片表面的涂层,来验证芯片表面是否有磨痕,涂层,重新打字等问题。 应用范围:通常配合外观检测来验证排除翻新货。 加热化学测试图片:   公司简介     深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。       2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。       创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。 联系我们 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975  0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com 2355636767  3004549392  3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 2021-10-20
  • 发表了主题帖: 烧录编程对芯片有何意义? | 创芯检测

    芯片在线烧录,集烧录与测试一体,得到了越来越多的人重视。事实上,烧录是一种将数据写入可编程集成电路的工具。烧录主要用于编写芯片的程序(或刷写),如单金属管(嵌入)/存储器(嵌入)。初次接触嵌入式的朋友对编程、烧录的概念感到困惑,认为内存必须用火烧制。实际上,嵌入式编程、烧录的概念,就是将程序写入存储器,类似于日常生活中的下载。烧录器提供的烧录接口都是用来配合各种封装的芯片的,建议批量生产的客户选择烧录器厂家推荐的适配器进行芯片烧录,如果使用未经测试的适配器,会存在接触不良、卡坏芯片等降低烧录成功率的事情发生。 什么是芯片烧录? 烧录是通过烧录器或烧录卡来来完成工作的。烧录器英文名为PROGRAMMER,有人叫WRITER,更早期有人叫BURNER,这种机器是用来烧录〔PROGRAM〕一种称为可烧录的IC〔PROGRAMABLE IC〕,可烧录这些IC内部的CELL〔细胞〕资料,造成不同的功能,以前的IC大部份都是固定功能的IC〔DEDICATED ID〕,所以设计者若设计一片电路板必须用上多种不同的固定功能的IC,对大量生产者需准备很多类型的IC,自从可烧录的IC出现后,设计者只要准备一种IC便可把它烧录成不同功能的IC,备料者只采购一种IC即可,备料方便,但须准备烧录器去烧录它。 烧录(一般的),是指用刻录机把数据刻录(也称烧录)到刻录盘。如CD、DVD两者刻录盘,后者容量要比前者大的多。烧录就象COPY一样。把电脑里的东西COPY在别的文件载体上,就象1.4寸的磁盘就可以说是一种烧录盘。但是比如GBA的卡,就是烧录卡,但是不能叫刻录卡。烧录刻录就都是同一个过程的,但是放到不同载体上就有不同的叫法。此外,该记录器功能齐全,用户可以删除、检查、编程、检查、加密等常用命令序列,自由组织单个命令。值得注意的是,一般来说,支持芯片型号较多的记录器更好,可以最大限度地提高生产率。 为什么IC芯片需要烧录呢? 第一,因为电子产品中有单片机或者ARM的控制器。在生产过程中,最开始控制芯片当中是没有任何程序的,为了单片机或者ARM芯片按照我们设计的功能执行操作,则需要将工程编写好的程序执行文件,烧录到我们电子产品的控制器芯片当中。 第二,需要烧录对应参数。当单片机或者ARM程序烧录后,有时候为了保密,可以通过串口或者USB等接口,需要对程序进行加密参数设定,或者烧录一部分参数,比如wifi模组的IP地址和端口的数据。都是为了保证电子产品能够正常运行。 第三,烧录文件,比如字库、图片、铃声、动画等文件。现在很多电子产品当中,都有显示屏幕,为了给用户增加优越的用户体验,需要将提前处理的高清照片保证到单片机或者ARM系统存储当中,字库文件是为了用户输入汉字调用的电子产品底层文件。 总的来说,IC收录这一道程序的目的在于保证单片机系统或者ARM芯片的正常运行,以及安全运行中必不可少的文件和参数。 可烧录的IC分类 可烧录的IC,一般分为MCU类和存储类两大类。 MCU类可烧录IC MCU类可烧录IC,目前市场上有很多单芯片控制器(SINGLE MCU)可以通过配套的烧录器进行一次或多次资料烧写。通常仅能烧录一次的MCU被叫做OTP MCU,与之相对的是MTP MCU,就是可多次烧录的MCU。 存储类可烧录IC 存储类可烧录IC的门类众多,例如EPROM、EEPROM、NOR FLASH、SPROM、NAND FLASH等等,都属于存储类可烧录IC。 EPROM、NOR FLASH、EEPROM、SPROM主要用于存放我们的数据资料或程式,生产厂家众多,市面上有相当多的万用烧写器可以把资料烧写进这些IC。NAND FLASH只有三星等几个生产厂家生产,目前广泛用于U盘、MP3、MP4、ELA和电子词典上。 以上便是此次创芯检测带来的“芯片烧录编程”相关内容,希望能对大家有所帮助,我们将于后期带来更多精彩内容。公司检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。 原文链接:https://www.iclabcn.com/470.html 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975;0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com QQ:2355636767;004549392;3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 教您如何对IC芯片进行检测 创芯检测

    芯片是智能设备的核心,就如同汽车的发动机一样,对整个产品起着关键性的作用。因此,IC芯片的质量对整个电子产品的作用非常大,它影响着整个产品上市后的质量问题。比较精密的电子元器件,将所需要用到的电子元器件(晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件)封装在一个管壳内,成为电路所需的功能性微型结构体,结构越精密,检测难度越大。一般企业为了确保IC芯片是否存在质量问题,通常会对IC芯片进行检测。创芯检测教您如何对IC芯片进行检测。 1、不在路检测 这种方法是在IC未焊入电路时进行的,一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值,并和完好的IC进行必较。 2、在路检测 这是一种通过万用表检测IC各引脚在路(IC在电路中)直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法。这种方法克服了代换试验法需要有可代换IC的局限性和拆卸IC的麻烦,是检测IC最常用和实用的方法。 3、直流工作电压测量 这是一种在通电情况下,用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量;检测IC各引脚对地直流电压值,并与正常值相较,进而压缩故障范围,出损坏的元件。测量时要注意以下八点: (1)万用表要有足够大的内阻,少要大于被测电路电阻的10倍以上,以免造成较大的测量误差。 (2)通常把各电位器旋到中间位置,如果是电视机,信号源要采用标准彩条信号发生器。 (3)表笔或探头要采取防滑措施。因任何瞬间短路都容易损坏IC。可采取如下方法防止表笔滑动:取一段自行车用气门芯套在表笔尖上,并长出表笔尖约0.5mm左右,这既能使表笔尖良好地与被测试点接触,又能有效防止打滑,即使碰上邻近点也不会短路。 (4)当测得某一引脚电压与正常值不符时,应根据该引脚电压对IC正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析,能判断IC的好坏。 (5)IC引脚电压会受外围元器件影响。当外围元器件发生漏电、短路、开路或变值时,或外围电路连接的是一个阻值可变的电位器,则电位器滑动臂所处的位置不同,都会使引脚电压发生变化。 (6)若IC各引脚电压正常,则一般认为IC正常;若IC部分引脚电压异常,则应从偏离正常值最大处入手,检查外围元件有无故障,若无故障,则IC很可能损坏。 (7)对于动态接收装置,如电视机,在有无信号时,IC各引脚电压是不同的。如发现引脚电压不该变化的反而变化大,该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化,就可确定IC损坏。 (8)对于多种工作方式的装置,如录像机,在不同工作方式下,IC各引脚电压也是不同的。 以上便是此次创芯检测带来的“IC芯片检测”相关内容,希望能对大家有所帮助,我们将于后期带来更多精彩内容。公司检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。 原文链接:https://www.iclabcn.com/469.html 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975;0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com QQ:2355636767;004549392;3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 如何判断集成电路IC芯片好坏? | 创芯检测

    将许多电阻、二极管和三极管等元器件以电路的形式制作半导体硅片上,然后接出引脚并封装起来,就构成了集成电路。如何准确判断电路中集成电路IC是否处于工作状态呢?要是判断不准确,往往花大力气换上新集成电路而故障依然存在。接下来,我们来看看如何判断集成电路IC芯片好坏? 1.首先要掌握该电路中IC的用途、内部结构原理、主要电特性等,必要时还要分析内部电原理图。除了这些,如果再有各引脚对地直流电压、波形、对地正反向直流电阻值,那么,对检查前判断提供了更有利条件。 2.然后按故障现象判断其部位,再按部位查找故障元件。有时需要多种判断方法去证明该器件是否确属损坏。 3.一般对电路中IC的检查判断方法有两种:一是不在线判断,即电路中IC未焊入印刷电路板的判断。这种方法在没有专用仪器设备的情况下,要确定该电路中IC的质量好坏是很困难的,一般情况下可用直流电阻法测量各引脚对应于接地脚间的正反向电阻值,并和完好集成电路进行比较,也可以采用替换法把可疑的集成电路插到正常设备同型号集成电路的位置上来确定其好坏。当然有条件可利用集成电路测试仪对主要参数进行定量检验,这样使用就更有保证。 4.还有在线检查判断,即集成电路连接在印刷电路板上的判断方法。在线判断是检修集成电路在电视、音响、录像设备中最实用的方法。以下分几种情况进行阐述: 直流工作电压测量法:主要是测出各引脚对地的直流工作电压值;然后与标称值相比较,依此来判断集成电路的好坏。用电压测量法来判断集成电路的好坏是检修中最常采用的方法之一,但要注意区别非故障性的电压误差。测量集成电路各引脚的直流工作电压时,如遇到个别引脚的电压与原理图或维修技术资料中所标电压值不符,不要急于断定集成电路已损坏,应该先排除以下几个因素后再确定。 (1)所提供的标称电压是否可靠,因为有一些说明书,原理图等资料上所标的数值与实际电压有较大差别,有时甚至是错误的。此时,应多找一些有关资料进行对照,必要时分析内部原理图与外围电路再进行理论上的计算或估算来证明电压是否有误。 (2)要区别所提供的标称电压的性质,其电压是属哪种工作状态的电压。因为集成块的个别引脚随着注入信号的不同而明显变化,所以此时可改变波段或录放开关的位置,再观察电压是否正常。如后者为正常,则说明标称电压属某种工作电压,而这工作电压又是指在某一特定的条件下而言,即测试的工作状态不同,所测电压也不一样。 (3)要注意由于外围电路可变元件引起的引脚电压变化。当测量出的电压与标称电压不符时可能因为个别引脚或与该引脚相关的外围电路,连接的是一个阻值可变的电位器或者是开关(如音量电位器、亮度、对比度、录像、快进、快倒、录放开关、音频调幅开关等)。这些电位器和开关所处的位置不同,引脚电压会有明显不同,所以当出现某一引脚电压不符时,要考虑引脚或与该引脚相关联的电位器和开关的位置变化,可旋动或拔动开头看引脚电压能否在标称值附近。 (4)要防止由于测量造成的误差。由于万用表表头内阻不同或不同直流电压档会造成误差。一般原理上所标的直流电压都以测试仪表的内阻大于20KΩ/V进行测试的。内阻小于20KΩ/V的万用表进行测试时,将会使被测结果低于原来所标的电压。另外,还应注意不同电压档上所测的电压会有差别,尤其用大量程档,读数偏差影响更显着。 (5)当测得某一引脚电压与正常值不符时,应根据该引脚电压对IC正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析,才能判断IC的好坏。 (6)若IC各引脚电压正常,则一般认为IC正常;若IC部分引脚电压异常,则应从偏离正常值最大处入手,进口泵检查外围元件有无故障,若无故障,则IC很可能损坏。 (7)对于动态接收装置,如电视机,在有无信号时,IC各引脚电压是不同的。如发现引脚电压不该变化的反而变化大,该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化,就可确定IC损坏。 (8)对于多种工作方式的装置,如录像机,在不同工作方式下,IC各引脚电压也是不同的。 上述就是在电路中IC没有故障的情况下,由于某种原因而使所测结果与标称值不同,所以总的来说,在进行集成块直流电压或直流电阻测试时要规定一个测试条件,尤其是要作为实测经验数据记录时更要注意这一点。通常把各电位器旋到机械中间位置,信号源采用一定场强下的标准信号,当然,如能再记录各功能开关位置,那就更有代表性。如果排除以上几个因素后,所测的个别引脚电压还是不符标称值时,需进一步分析原因,但不外乎两种可能。一是集成电路本身故障引起;二是集成块外围电路造成。分辨出这两种故障源,也是修理集成电路家电设备的关键。 交流工作电压测量法:为了掌握IC交流信号的变化情况,可以用带有dB插孔的万用表对IC的交流工作电压进行近似测量。 检测时万用表置于交流电压挡,正表笔插入dB插孔;对于无dB插孔的万用表,需要在正表笔串接一只0.1~0.5uF隔直电容。该法适用于工作频率比较低的IC,如电视机的视频放大级、场扫描电路等。 由于这些电路的固有频率不同,波形不同,所以所测的数据是近似值,或者作为有无。 以上便是此次创芯检测带来的“集成电路IC芯片检测”相关内容,希望能对大家有所帮助,我们将于后期带来更多精彩内容。公司检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。 原文链接:https://www.iclabcn.com/467.html 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975;0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com QQ:2355636767;004549392;3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: ic芯片各引脚检测氧化及功能介绍 | 创芯检测

    IC芯片引脚是否合格,是成型分离制程检测的关键。针对这一问题,应用机器视觉和机器自动化技术,研制出实现成型分离制程芯片检测自动化的检测系统。实验测试表明,该设备具有较高的检测精度和检测速度,能够满足生产需要。下面主要介绍ic芯片引脚判断顺序、氧化及各功能介绍及检测。 首先说说识别数字IC管脚的方法: 将IC正面的字母、代号对着自己,使定位标记朝左下方,则处于最左下方的管脚是第1脚,再按逆时针方向依次数管脚,便是第2脚、第3脚等等。有些进口IC电路的管脚排序是反向的。这类IC的型号后面带有后缀字母“R”。型号后面无“R”的是正向型管脚,有“R”的是反向型管脚。 判定IC引脚是否氧化: 一、 查板方法: 1、观察法:有无烧糊、烧断、起泡、板面断线、插口锈蚀。 2、表测法:+5V、GND电阻是否是太小(在50欧姆以下)。 3、通电检查:对明确已坏板,可略调高电压0.5-1V,开机后用手搓板上的IC,让有问题的芯片发热,从而感知出来。 4、逻辑笔检查:对重点怀疑的IC输入、输出、控制极各端检查信号有无、强弱。 5、辨别各大工作区:大部分板都有区域上的明确分工,如:控制区(CPU)、时钟区(晶振)(分频)、背景画面区、动作区(人物、 飞机)、声音产生合成区等。这对电脑板的深入维修十分重要。 二、排错方法: 1、将怀疑的芯片,根据手册的指示,首先检查输入、输出端是否有信号(波型),如有入无出,再查IC的控制信号(时钟)等的有无,如有则此IC坏的可能性极大,无控制信号,追查到它的前一极,直到找到损坏的IC为止。 2、找到的暂时不要从极上取下可选用同一型号。或程序内容相同的IC背在上面,开机观察是否好转,以确认该IC是否损坏。 3、用切线、借跳线法寻找短路线:发现有的信线和地线、+5V或其它多个IC不应相连的脚短路,可切断该线再测量,判断是IC问题还是板面走线问题,或从其它IC上借用信号焊接到波型不对的IC上看现象画面是否变好,判断该IC的好坏。 4、对照法:找一块相同内容的好电脑板对照测量相应IC的引脚波型和其数来确认的IC是否损坏。 5、用微机万用编程器(ALL-03/07)(EXPRO-80/100等)中的ICTEST软件测试IC。 三、电脑芯片拆卸方法: 1、剪脚法:不伤板,不能再生利用。 2、拖锡法:在IC脚两边上焊满锡,利用高温烙铁来回拖动,同时起出IC(易伤板,但可保全测试IC)。 3、烧烤法:在酒精灯、煤气灶、电炉上烧烤,等板上锡溶化后起出IC(不易掌握)。 4、锡锅法:在电炉上作专用锡锅,待锡溶化后,将板上要卸的IC浸入锡锅内,即可起出IC又不伤板,但设备不易制作。 5、电热风枪:用专用电热风枪卸片,吹要卸的IC引脚部分,即可将化锡后的IC起出作为专业硬件维修,板卡维修是非常重要的项目之一。 IC芯片引脚功能: (1)脚是一个多功能引脚,各种制式下的第二伴音中频信号可以用不平衡的方式从该脚进入内部的调频解调电路解调,同时它还是块内AV\TV转换和PAL、NTSC、SECAM彩色制式转换的控制引脚,输入阻抗大约3.4K。 (2)脚是识别输出脚,它以○C门方式输出图像识别信号,当TV方式已经接收到图像电视信号时,该脚对外呈现高阻抗,通过外接上拉电阻就能够得到高电平信号;当没有接收到信号时,该脚呈现低阻抗,输出低电平。 用放大镜看的,引脚多了,用万用表不好测。实在不放心的话,就用热风枪再吹一次,调好温度,有的芯片不耐高温,350度左右没问题。最简单的还是上电测,用着没问题那就ok了。 用万用表电阻档测量,应该是测芯片有没有损坏,正常的芯片引脚间都是有电阻的,还可以在线测电压值,和一般的数据做比较就可以知道芯片的好坏或是性能优劣。 以上便是此次创芯检测带来的“ic芯片各引脚检测”相关内容,通过本文,希望能对大家有所帮助。如果您喜欢本文,不妨持续关注我们网站,我们将于后期带来更多精彩内容。如您有任何电子产品检验测试的相关需求,欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。 原文检测:https://www.iclabcn.com/468.html 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975;0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com QQ:2355636767;004549392;3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 2021-10-19
  • 发表了主题帖: 元器件失效原因是什么?如何找到并更换?| 创芯检测

    为什么有时元器件会无缘无故失效?集成电路结构遵循摩尔定律,变得越来越小。正常工作温度下物的迁移导致器件在几十年内失效的风险增加。此外,磁致伸缩引起的疲劳会导致电感机械疲劳,这是一种广为人知的效果。有些类型的电阻材料会在空气中缓慢氧化,当空气变得更加潮湿时,氧化速度会加快。 因此,在选择设备时,有必要了解其结构和可能的老化相关失效机制。即使在理想条件下使用设备,这些机制也可能受到影响。然而,在适当的工作条件下,大多数电子设备的预期寿命可以达到几十年甚至更长,但有些仍然过早失效。原因往往是不被注意的压力。任何在海洋环境中设计电子产品的人都会考虑盐雾和湿度。事实上,许多电子设备可能会遇到不那么可怕的化学挑战,但仍然可能造成伤害。设计师必须考虑电路遇到的环境挑战。在经济可行的情况下,任何潜在的危害都应该通过设计降到最低。 静电损伤(ESD)是一种压力机制,相关警告最常见,但我们往往视而不见。在PCB生产过程中,工厂会采取充分的措施来消除制造过程中的ESD,但是在交付之后,很多PCB般操作造成的ESD保护措施不足的系统。做好充分的保护并不难,只是会增加一点成本,所以经常被忽视。评估系统电子器件在正常使用的最极端情况下需要什么样的ESD保护,并考虑如何实现,应该是所有设计的一部分。 另一个因素是过压。很少有人要求半导体或电容即使受到重大过压也是健康的,但大值电阻遇到远大于数据手册中绝对最大值的电压是常见现象。问题是:虽然其电阻值足够高,不会变热,但内部可能会产生微小的电弧,导致其缓慢漂移,偏离规格,最终短路。大型绕线电阻通常有数百伏击穿电压,所以这个问题在过去并不常见,但现在小型表贴电阻被广泛使用,击穿电压可能低于30伏,相当容易受到过压的影响。 大电流也会造成问题。大家都很熟悉普通的保险丝——它是一根导线。如果电流过大,会变热熔断,防止电源短路等类似问题。然而,如果一个非常小的导体有很高的电流密度,导体可能不会变得很热,但最终可能会失效。原因是所谓的电迁移。也就是说,导电电子和扩散金属原子之间的动量传递导致体内离子逐渐运动,产生物质运输效果。这着时间的推移,携带大直流电流的薄导体越来越薄,最终失效。 但有些部分会像保险丝一样失效,即熔断,如导线或半导体芯片上的导电接线。这种现象的一个常见原因是电容充电电流过大。考虑到ESR为1ω的1HF电容,如果连接到110V和60Hz的交流电源,大约41mA的交流电流流过其中。但是,当电压处于最大值(110√2=155.6V)时,只有ESR会限制流量,峰值电流会达到155.6A,虽然它的持续时间不到1μs,但也足以损坏许多小信号半导体器件。 重复浪涌可能会损坏电容本身,尤其是电解电容。这是一种特别常见的故障机制,用于给小型电子设备充电。如果插入一个交流周期的错误时间,整流器和电容器将携带非常大的浪涌电流,如果多次发生,最终可能会损坏设备。用小电阻与整流器串联,可以限制浪涌电流,最大限度地减少问题。 运气好的话,ESD或过压/过流事件会立即损坏设备,所以很容易知道问题。但更常见的情况是,压力造成的损坏导致设备故障,最初导致故障的压力已经消失。诊断这种失效的原因是非常困难甚至不可能的。无论设计什么电路,都需要考虑所用设备的工作寿命和失效机制,以及在允许的极端使用条件下是否存在潜在问题或压力源,以及设备是否会损坏。任何这样的问题都要考虑,在最终的设计中尽量最小化。 那么如何有效地找到无效的电子元器件,更换或修复问题呢? 当调试过程中,当电路不能工作或工作异常时。首先,通过动态观察法,在线路设备通电的情况下,通过听、看、摸、闻等方法判断电子元件的故障。例如:听设备是否有异常声音仔细看电路内是否有冒烟、火花等情况;摸摸元件,电路是否发烫;闻闻是否有焦糊等气味。也可以通过万用表测量电路中的通断,通过测量正常和异常电路中的各种值来判断。 以上便是此次创芯检测带来的“电元器件失效分析”相关内容,希望能对大家有所帮助,我们将于后期带来更多精彩内容。公司检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。 原文链接:https://www.iclabcn.com/465.html 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975;0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com QQ:2355636767;004549392;3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

  • 发表了主题帖: 电子元件做可靠性试验方法及分类 | 创芯检测

    芯片测试,一般是从测试的对象上分为最终测试和晶圆测试,分别指的是是已经封装好的芯片,和尚未进行封装的芯片。为啥要分两段?简单的说,因为封装也是有cost的,为了尽可能的节约成本,可能会在芯片封装前,先进行一部分的测试,以排除掉一些坏掉的芯片。而为了保证出厂的芯片都是没问题的,最终测试也即FT测试是最后的一道拦截,也是必须的环节。 一、如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验; 二、以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验; 三、若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验; 四、若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。 通常惯用的分类法,是把可靠性试验归纳为五大类: A.环境试验B.寿命试验C.筛选试验D.现场使用试验E.鉴定试验 可靠性环境试验分类有哪些? 部分可靠性专著把样品置于自然或人工模拟的储存、运输和工作环境中的试验统称为环境试验,是考核产品在各种环境(振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等)条件下的适应能力,是评价产品可靠性的重要试验方法之一。一般主要有以下几种: 1、稳定性烘培,即高温存储试验 试验目的:考核在不施加电应力的情况下,高温存储对产品的影响。有严重缺陷的产品处于非平衡态,是一种不稳定态,由非平衡态向平衡态的过渡过程既是诱发有严重缺陷产品失效的过程,也是促使产品从非稳定态向稳定态的过渡过程。  2、温度循环试验 试验目的:考核产品承受一定温度变化速率的能力及对极端高温和极端低温环境的承受能力.是针对产品热机械性能设置的。当构成产品各部件的材料热匹配较差,或部件内应力较大时,温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。如漏气、内引线断裂、芯片裂纹等。 3、热冲击试验 试验目的:考核产品承受温度剧烈变化,即承受大温度变化速率的能力。试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效.热冲击试验与温度循环试验的目的基本一致,但热冲击试验的条件比温度循环试验要严酷得多的热容量都是保证试验条件的重要因素。 4、低气压试验 试验目的:考核产品对低气压工作环境(如高空工作环境)的适应能力。当气压减小时空气或绝缘材料的绝缘强度会减弱;易产生电晕放电、介质损耗增加、电离;气压减小使散热条件变差,会使元器件温度上升。这些因素都会使被试样品在低气压条件下丧失规定的功能,有时会产生永久性损伤。 5、耐湿试验 试验目的:以施加加速应力的方法评定微电路在潮湿和炎热条件下抗衰变的能力,是针对典型的热带气候环境设计的。微电路在潮湿和炎热条件下衰变的主要机理是由化学过程产生的腐蚀和由水汽的浸入、凝露、结冰引起微裂缝增大的物理过程。试验也考核在潮湿和炎热条件下构成微电路材料发生或加剧电解的可能性,电解会使绝缘材料电阻宰发生变化,使抗介质击穿的能力变弱。 6、盐雾试验 试验目的:以加速的方法评定元器件外露部分在盐雾、潮湿和炎热条件下抗腐蚀的能力,是针对热带海边或海上气候环境设计的.表面结构状态差的元器件在盐雾、湘湿和炎热条件下外露部分会产生腐蚀。 以上便是此次创芯检测带来的“芯片测试”相关内容,希望能对大家有所帮助,我们将于后期带来更多精彩内容。公司检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。 原文链接:https://www.iclabcn.com/463.html 深圳创芯在线检测技术有限公司 0755-23483975;0755-83765367 销售服务:sales@iclab-cn.com 销售服务:sales2@iclab-cn.com 技术支持:engineer@iclab-cn.com QQ:2355636767;004549392;3004594391 深圳市龙岗区坂田街道吉华路393号英达丰科技园A栋401 深圳市福田区振华路鼎诚国际大厦1栋2603

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