- 2021-01-04
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SOP16(28)-0.65下压弹片烧录座
SOP16(28)-0.65下压弹片烧录座
一. 产品特点
1. 采用双触点技术,接触更稳定(见如下示意图);
2. 座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长;
3. 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好;
4. 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度;
5.我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
二. 产品性能
1. 材质
(1) 绝缘体 PEI、PPS
(2) 弹片, 铍铜Be Cu Gold plating(30μ)
Over Nickel plating(50μ)
三. 规格尺寸
(1) 型号: SOP16(28)-0.65
(2)引脚间距:0.65
(3) 脚位:16
(4)适配芯片本体长度/宽度:4.54*4.4mm
- 2021-01-03
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QFN48(7*7)-0.5翻盖弹片老化座
QFN48(7*7)-0.5翻盖弹片老化座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN12的IC芯片进行烧写、测试
B、适用封装:QFN48 引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN48-0.5
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定
E、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
F、使用寿命:15000次(机械测试)
规格尺寸
A、 型号:QFN-48-0.5
B、 引脚间距(mm):0.5
C、 脚位:48
D、 芯片尺寸:7*7
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SSOP24(34)-0.65下压弹片老化座
SSOP24(34)-0.65下压弹片老化座
一. 产品特点
1. 采用双触点技术,接触更稳定(见如下示意图);
2. 座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长;
3. 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好;
4. 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度;
5、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
二. 产品性能
1. 材质
(1) 绝缘体 PEI、PPS
(2) 弹片, 铍铜Be Cu Gold plating(30μ)
Over Nickel plating(50μ)
三. 规格尺寸
(1) 型号: SSOP 24(34)-0.65
(2)引脚间距:0.65
(3) 脚位:24
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SSOP8(28)-0.65下压弹片老化座
SSOP8(28)-0.65下压弹片老化座
一. 产品特点
1. 采用双触点技术,接触更稳定(见如下示意图);
2. 座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长;
3. 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好;
4. 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度;
5、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
二. 产品性能
1. 材质
(1) 绝缘体 PEI、PPS
(2) 弹片, 铍铜Be Cu Gold plating(30μ)
Over Nickel plating(50μ)
三. 规格尺寸
(1) 型号: SSOP 8(28)-0.65
(2)引脚间距:0.65
(3) 脚位:8
(4)适配芯片本体宽度:4.4mm
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QFN36(6*6)-0.5翻盖弹片烧录座(双层板)
QFN36(6*6)-0.5翻盖弹片烧录座(双层板)
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
B、适用封装:QFN36引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN36-0.5
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定
F、使用寿命:15000次(机械测试)
规格尺寸
A、型号:QFN-36-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:36
D、芯片尺寸:6*6
- 2020-12-31
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TSOP66下压弹片老化座
TSOP66下压弹片老化座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对TSOP66的IC芯片进行测试,清空
B、适用封装:TSOP66引脚间距0.65mm
C、测试座:TSOP66-0.65
D、特点: 独特的专利结构设计,使导电体抗疲劳高,寿命更长
E、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:TSOP66-0.65
B、引脚间距(mm):0.65
C、脚位:66
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TSOP48-0.5下压宽体测试座
TSOP48-0.5下压宽体测试座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对TSOP48的IC芯片进行测试,编程
B、适用封装:TSOP48引脚间距0.5mm
C、测试座:TSOP48-0.5
D、特点:下压结构节省测试环境空间
规格尺寸
A、型号:TSOP48-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:48
D、芯片尺寸:14*18.4
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eMMC153合金探针+金属盒转USB3.0-母口测试座
eMMC153合金探针+金属盒转USB3.0-母口测试座
产品简介
一.功能:
A、 可对未写保护的IC进行清空(格式化),测试IC好坏,大小容量,读取拷贝。
B、 如客户手机损坏,字库里的资料很重要,可以用我们的座子读取到里面的资料找回,手机维 修,数据恢复的利器。
C、 客户常问这种测试座可不可以烧录资料进IC?
D、 答:可以,但需要烧录资料的相应软件,但我们不是芯片方案商,无法提供烧录软件,客户需 自己有烧录软件方可烧录,否则只能像U盘一样拷贝。
E、传输数度快,测试稳定,合金探针设计结构理论寿命长达10万次
二. 产品特性:
A、 支持热拔插和电源单独开关,支持通过USB接口或通过连线与板上排针对应PIN相连接进行测 试;
B、 同时兼容153-FBGA 169-FBGA;
常见IC尺寸:
eMMC153/169: 11.5×13mm, 12×16mm;
C、 探针设计,后期加硬、加厚镀金层处理,从而保证产品稳定性及耐用性;
D、 采用翻盖式结构,操作方便简单;
E、采用浮板结构,定位精确,取放IC方便,工作效率更高;
F、同时兼容:东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk(新帝)等所有同样封装4BIT、8BITeMMC闪存记忆体
- 2020-12-29
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SOP8(28)-0.65下压弹片烧录座
SOP8(28)-0.65下压弹片烧录座
一. 产品特点
1. 采用双触点技术,接触更稳定(见如下示意图);
2. 座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长;
3. 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好;
4. 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度;
二. 产品性能
1. 材质
(1) 绝缘体 PEI、PPS
(2) 弹片, 铍铜Be Cu Gold plating(30μ)
Over Nickel plating(50μ)
三. 规格尺寸
(1) 型号: SOP 8(28)-0.65
(2)引脚间距:0.65
(3) 脚位:8
(4)适配芯片本体宽度:4.4mm
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QFP32-0.8翻盖弹片老化座
QFP32-0.8翻盖弹片老化座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFP32的IC芯片进行烧写、测试
B、适用封装:QFP32、PQFP32、TQFP32,引脚间距0.8mm
C、测试座:IC51-0324-1498
D、特点:QFP32转DIP32,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽度 1.52cm(600mil)
E、使用寿命:15000次(机械测试)
F、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:IC51-0324-1498
B、引脚间距(mm):0.8
C、脚位:32
- 2020-12-28
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QFN28(5*5)-0.5翻盖弹片烧录座(双层板)
QFN28(5*5)-0.5翻盖弹片烧录座(双层板)
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN28的IC芯片进行烧写、测试
B、适用封装:QFN28引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN28-0.5
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定
E、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
F、使用寿命:15000次(机械测试)
规格尺寸
A、型号:QFN-28-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:28
D、芯片尺寸:5*5
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QFN56(8*8)-0.5翻盖弹片老化座
QFN56(8*8)-0.5翻盖弹片老化座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN12的IC芯片进行烧写、测试
B、适用封装:QFN56 引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN56-0.5
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定
E、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
F、使用寿命:15000次(机械测试)
规格尺寸
A、 型号:QFN-56-0.5
B、 引脚间距(mm):0.5
C、 脚位:56
D、 芯片尺寸:8*8
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QFN52(8*8)-0.5翻盖弹片老化座
QFN52(8*8)-0.5翻盖弹片老化座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN12的IC芯片进行烧写、测试
B、适用封装:QFN52 引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN52-0.5
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定
E、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD
F、使用寿命:15000次(机械测试)
规格尺寸
A、 型号:QFN-52-0.5
B、 引脚间距(mm):0.5
C、 脚位:52
D、 芯片尺寸:8*8
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SOP8X2(20)-1.27下压弹片烧录座
SOP8X2(20)-1.27下压弹片烧录座
一. 产品特点
1. 采用双触点技术,接触更稳定(见如下示意图);
2. 座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长;
3. 弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好;
4. 镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度
二. 产品性能
1. 材质
(1) 绝缘体 PEI、PPS
(2) 弹片, 铍铜Be Cu Gold plating(30μ)
Over Nickel plating(50μ)
三. 规格尺寸(1) 型号: SOP 8*2(20)-1.27 【本款烧录座可同时放入两颗宽体sop8芯片】
(2)引脚间距:1.27
(3) 脚位:16
(4)适配芯片本体宽度:5.4mm
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苹果4 LGA60翻盖探针单排线带托板测试座
苹果4 LGA60翻盖探针单排线带托板测试座详细介绍
1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 准确定位测试焊盘及锡球.
4. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
5. 压力可以调整结构,可以兼容IC厚度0.8-1.5mm.
6. 实现NAND内存的读取和访问.
7. 兼容的品牌Samsung(三星),Hynix(海力士),Sandisk,Toshiba(东芝),Intel(英特尔)等.
8. 适用IC尺寸: 18 x14/18x13/17x13/17x12/20x12/14x11mm
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凯智通EMMC测试治具
凯智通EMMC测试治具详细介绍:
※专利设计,保证连接稳定可靠;
※采用进口探针和防静电材料制作费
※探针可以更换,维修方便;
※最小可做到的测度试间距pitch=0.4mm;
※测试频率可达9.3GHZ;
※用途:集成电路应用工能验证测试。
※可根据客户不同类型PCBA产品定制各种芯片测试治具
※应用范围:适应于各类手机、电脑南北桥、MP3、MP4、DVD、打印机、通讯超级终端、程控主板、显卡、数码相机、机顶盒等BGA\QFN\QFP等封装IC的功能验证。
- 2020-12-26
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QFP64-0.5下压弹片烧录座
QFP64-0.5下压弹片烧录座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFP64的IC芯片进行烧写、测试
B、适用封装:QFN64引脚间距0.5mm
C、测试座:QFP64-0.5烧录座
D、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度硬、寿命长(翻盖结构20000次)
对应国外产品型号:OTQ-64-0.5-01
规格尺寸
A、型号:QFP-64-0.5烧录座
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:64
D、芯片尺寸:10*10
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QFP64下压弹片老化座
QFP64下压弹片老化座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFP64的IC芯片进行烧写、测试
B、适用封装:QFN64 引脚间距0.5mm
C、测试座:QFP64-0.5老化座
D、特点:底部引出引脚为不规则排列
E、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD
对应国外产品型号:OTQ-64-0.5-01
规格尺寸
A、型号:QFP-64-0.5老化座
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:64
D、芯片尺寸:10*10(不含引脚)
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OV2675摄像头翻盖测试座
OV2675摄像头翻盖测试座
OV2675 芯片测试座.专用度信主板测试sensor,如GALAXYCORE、. BYD 、Micron(aptina) 、Samsung 、MagnaChip 、OV 、SiliconFile 、SET、. Stmicro 、PixelPlus 、Philips、SuperPix、Pixart等品牌.
芯片应用领域:手机摄像头、电脑摄像头测试架应用范围:PCBA维修、来料检验(IPQC)、芯片筛选、工程项目验证
OV2675测试治具特点:
1.座头采用手动翻盖结构,操作灵敏。
2.座头顶盖的芯片压块采用人性化结构,下压力度平稳,保证IC的压力均匀,不偏移。
3.探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层,接触性能稳定, 保护锡球外形。
4.理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。
5.特殊IC载板结构,保护探针不受外力损坏。
6.探针:进口探针,铍铜镀硬金、铑。
7.维修成本低:方便更换探针,成本低效率高。
8.成熟加工精度范围:跳距pitch=0.4mm。
9.交货周期:现货。
10.连接度信接口测试,配备度信测试软件速度快,精度高。适用于客户批量生产测试,满足客户需求。
11、成熟设计和精密加工,调焦精准,成像清晰
我司拥有大规模生产加工设备,优秀的生产研发队伍,高尚的客户服务理念。生产效率快,维修时间短,受到诸多客户的的良好印象好评!
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eMCP186/162翻盖弹片转SD接口测试座
eMCP186/162翻盖弹片转SD接口测试座
产品简介
产品用途:编程座、测试座,对eMCP162/186的IC芯片进行测试、读写
测试方法 1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET内
2.按方向插进空闲SD接口,连接电脑或者编程器进行相应的测试、烧录
适用封装:eMCP162/186 引脚间距0.5mm
特点:1、采用标准SD接口模式,通过读卡器与电脑连接或通过编程器SD接口连接实现测试或 烧录等相应操作
2、兼容有球无球测试,IC限位框采用模具一体成型,可根据IC选择不同大小限位框进行更换,实现不同大小IC能够通过
3、支持热拔插,支持通过SD接口或通过连线与板上排针对应PIN相连接进行测试
4、采用浮板结构,定位精准,取放IC方便,工作效率更高
规格尺寸
型号:eMCP162/186-0.5
引脚间距(mm):0.5
引脚数:17
常见芯片尺寸:11.5*13mm 12*16mm